在线光谱测系统-应用於铝镀膜

铝制保护膜，包括氧化铝、其他铝镀膜及含特性的保护膜等，生产时品质必须受控，保证该薄膜面可符合各种国际规定的功能标淮。在连续生产过程中，要测试样品，可用抽检方式或在线测量。跟据这镀层车间的检查数据的回归，可以快速执行相应操施，例如重置机器操作设定，减少成本（包括品质及材料消耗） 。但这量度程序只适用于透明层料，不适用于广泛四散层面。

铝带或铝片的镀层是以反射光测量，白光干涉由反射信号产生。此光学镀层厚度是应用FFT 式运算法则，结果非常可靠。而这几何光学层厚测量是决定于光学、几何厚度及折射值功能 n=f （波长）之间的关系。 数值结果有很高的重复性及**准确。由于蔡司使用了**的光学配件及高热量稳定的二极管阵列式的多色仪。薄层厚度在 <500nm 间都可以测量，软件可执行校准及自动控制。这些方法亦可应用于其他镀层产品。

系统

蔡司提供两种测量方法：一是带光纤线的MCS600 系统；另一种是下带光纤线的CORONA 系统。两者都是二极管阵列式的多色仪、多通道式设计，波长分辨率分别为0.8nm/pixel 及3.3nm/pixel，连接插头有RS422、4-20mA、RS232 及RS485。激发输入及输出点皆可选用，系统以电脑操作，多台光谱仪可叠层连接，以一台电脑操作，因此可见及NIR 光谱可同时出现於显示器上。

软件

一个可选购配置的软件 ASPECT PLUS Windows 基本软件 （支援 Windows 软件） ，可配合镀层厚度插入软件使用。若有特别需要，我们可以为编写其应用软件，以 LabVIEW 编写。DLLs 的 C++ 和 LabVIEW 驱动程式容许客户编写自已程式，与我们的测量系统完全配合。

优点

• 快速及高精度量度

• 极高的镀层厚度重复性

• 已确识及测试的测量技术

• 高可靠性及低维修要求，这由于没有可移动部件

• 容易使用软件

• 快速提供详细光谱资料

• 富弹性安装，可使用光纤连接或无光纤技术及一系列配件

• 可分别量度几个不同点，配光纤多路器或穿越器

• 可直接用穿越器与无光纤系统联系

规格

• 波长范围 200–1020nm （900–1700nm 选配或层叠）

• 波长清晰度 0.8nm/Diode （2.4 nm Raleigh） / 3.3nm/diode （10nm Raleigh）

• 波长重复性 <0,05 nm

• PC 介面 CORONA 可选用RS 422; RS 232 res. RS 485

• PC 与系统距离 基本电线可延伸至 80 m, 使用光导传送可延伸至 2.5km

• 光纤石英，600μm 蕊，SMA 连接

• 架 19" 箱或19" 架；19" 保护箱；Corona （无光纤）铁箱