X射线测厚仪/光谱仪

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苏州圣光仪器有限公司
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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	无核密度检测仪 LA-4114型	无核密度检测仪/土壤无核密度仪/无核密湿度仪/无核仪LA-4114型英文俗称EDG，是一种可替代核子密度仪，测量路基和地基压实土壤之物理特性的无核测量仪。无核密度检测仪EDG可测量并显示干/湿密度、含水量，以及压实百分数。EDG使用简便，可以作为建筑用辅助设备来监控每日的压实操作，其上等的工作性能和准确的测量结果可以与传统测量法，如核子密度测量法，灌砂法，以及干燥法相媲美。
	费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237	费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237是一款应用广泛的能量色散型射线荧光材料分析及镀层测厚仪。它尤其适合在自动化测量应用中无损测量超薄镀层厚度和分析材料。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪配备可编程运行XY轴工作台及Z轴升降系统，全自动测量超薄镀层厚度和分析材料成分。
	菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪 FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ® -SDD	菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪/X-RAY射线光谱测厚仪/X射线分析仪FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是FISCHER产品中性能zui强大的X射线荧光仪器之一。菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪XDV-SDD配备了特别加大的硅漂移探测器（SDD）。50mm²的探测器窗口确保能快速而精-确地测量甚是小面积的测量点。此外，XDV-SDD仪器还配备了各种不同的滤波片，从而能为不同的测量任务建立*优化的激发条件。XDV-SDD可以测量含量低于1000ppm的如汞、铅等有害金属元素。
	手持式XRF荧光光谱仪 X-MET8000S	手持式XRF荧光光谱仪/手持式合金成分分析仪/元素含量检测仪X-MET8000S由Oxford Instruments下属的工业产品分公司研究、设计和制造，世界500强日立公司于2017年7月收购了牛津仪器工业分析部门，牛津手持光谱仪品牌正式更名为日立仪器HITACHI。手持式XRF荧光光谱仪X-MET8000S型是一款为客户量身定做的X射线的荧光光谱仪。它集速度，准确，坚固和易用为一体，加上硬件，软件的多年行业经验，满足你对检测的所有要求。
	菲希尔x-ray荧光光谱仪 FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230	菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是德国菲希尔fischer公司XDL系列机型中性价比高的一款，相比XDL-210主要的优势在于X轴和Y轴方向可以手动调节，大大方便了测量的便捷性。菲希尔x-ray荧光光谱仪XDL-230还可以通过可编程XY工作台与Z轴（可选）实现自动化的批量测试。XDL-230菲希尔x-ray荧光光谱仪以优异的性能被选为国内各省电科院/国家电网技能比武指定使用机型。
	X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237	X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的合适的测量仪器。
	X-RAY荧光测厚仪 X-RAY XULM	X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。 X-RAY荧光测厚仪\|x射线测厚仪\|x荧光光谱仪\|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
	X射线测厚仪 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210	X射线测厚仪\|X-RAY镀层分析仪\|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

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