NANOFIRST-2000 标准配置技术指标 工作模式 接触模式（Contact Mode）、摩擦力/横向力模式（LFM）、F-Z模式 样品要求 尺寸≤Φ30mm，厚度：≤15mm 样品移动台范围 0~5mm 分辨率 横向 0.25nm, 纵向0.03nm（云母定标） 扫描范围 6μm×6μm 扫描速率 >40000点/秒 扫描角度 0~360° 扫描偏移 任意 扫描器校正 实时非线性校正 横向测量精度 ＜2% 扫描区域选择 实时扫描窗口＋扫描存储窗口内剪切 图像采样点 256×256或512×512 XY扫描比率 1:1，2:1，4:1，8:1 控制器反馈方式 DSP数字反馈 反馈采样速率 64.0kHz A/D通道 1个14-bit A / D，2个独立16-bit A / D D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A 步进马达控制 手动和全自动进退 计算机接口 USB 防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱 NANOFIRST-2100标准配置技术指标 工作模式 STM：恒流模式、恒高模式、电流-电压（I-V）隧道谱、电流-间隙（I-Z）隧道谱； AFM:接触模式（Contact Mode）、摩擦力/横向力模式（LFM）、F-Z模式 样品要求 尺寸≤Φ30mm，厚度：≤15mm 样品移动台范围 0~5mm 分辨率 STM：横向 0.1nm, 纵向0.01nm（以HOPG定标） AFM：横向 0.25nm, 纵向0.03nm（云母定标） STM电流检测器 分辨率≤1pA，范围 -10nA~10nA 样品偏压 16-bit D/A，-10.0~+10.0V 扫描范围 6μm×6μm 扫描速率 >40000点/秒 扫描角度 0~360° 扫描偏移 任意 扫描器校正 实时非线性校正 横向测量精度 ＜2% 扫描区域选择 实时扫描窗口＋扫描存储窗口内剪切 图像采样点 256×256或512×512 XY扫描比率 1:1，2:1，4:1，8:1 控制器反馈方式 DSP数字反馈 反馈模式 STM：线性和对数反馈；AFM：线性反馈 反馈采样速率 64.0kHz A/D通道 1个14-bit A / D，2个独立16-bit A / D D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A 步进马达控制 手动和全自动进退（STM自动保护针尖） 计算机接口 USB 防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱
为教学和研究设计，配有专业防震箱； DSP全数字化控制，操作简洁直观； 仅需要更换针架，即可切换STM或AFM； 提供实验标准光栅、云母和HOPG样品； 配有详尽的实验教学指导教程； 可组合光学连续变倍显微镜，样品观测范围从1nm到20nm； 可选配液体池和电化学附件； 可选配纳米操纵和加工功能模块； 可选配环境气氛控制设备； 配备二维样品移动平台，快速搜索感兴趣的样品区域； 采用集成高压运算放大器，噪声低； 工作软件为中文Windows 98/2000/XP操作系统； 实时观测比照的形貌图、摩擦力图、相位图、静电力图、磁力图； 多通道图像同步采集显示，实时察看高度trace和retrace同时对比剖面图； 集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度可达到或优于2%； 定点实时测定多种曲线功能； 设置“扫描频率**上限”功能，可限制*快扫描频率，保护探针； 图像获取文件连续存盘和自定义文件名，当前全部工作环境参数同步保存功能； 即使图像扫描未完成也能强制存盘，软件在线提示及过程帮助； 全功能调色板编辑器，预存20种常用的调色板数据，方便选择； 功能强大的离线图像数据分析和处理功能。
NanoFirst-2000接触式AFM应用了高性能DSP数字化技术和18-bit高精度模/数、数/模转换技术，并自动校正A/D和D/A输入输出偏差和零点漂移的影响，数字反馈采样频率高达64.0kHz。高压放大器为集成高压运算放大器，输出范围+/-150V，扫描范围大，噪声低。针尖-样品有手动和自动逼近方式，能对云母表面进行常规原子分辨， 可测量和分析力曲线、高度像、起伏信号像、摩擦力像、静电力像、磁力像。选配液体池可在液体中成像。系统软件能工作在Win98/2000/XP环境，主机选用台式PC或笔记本电脑均可。备有实验指导教程，特别适合于高校纳米科技教学、实验室的SPM培训和会议现场演示，配备本公司的高分辨CCD可从事科学研究工作。