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开尔文探针扫描系统
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开尔文探针扫描系统
产品资料
开尔文探针扫描系统
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
开尔文探针扫描系统
产品型号:
产品展商:
其他品牌
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简单介绍
开尔文探针扫描系统
产品描述
技术参数
扫描开尔文探针系统
该开尔文探针系统是一款可以被大多数客户所接收的**扫描开尔文探针系统,它是在ASKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置,其规格如下:
*2毫米,50微米探针;
*功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖),5-10 meV(50微米针尖);
*针尖到样品表面距离可以达到400纳米以内;
*功函数或表面势、样品形貌3维地图绘制;
*探针扫描或样品扫描选配;
*彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置(New Port);
*参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的3D数据);
*备用的针尖放大器;
*24个月超长质保期;
典型应用
吸附,电池系统,生物学和生物技术,催化作用,电荷分析,涂层,腐蚀,沉积,偶极层形成,显示技术,教育,光/热散发,费米级扫描,燃料电池,离子化,MEMs,金属,微电子,纳米技术,Oleds,相转变,感光染色,光伏谱学,高分子半导体,焦热电,半导体,传感器,皮肤,太阳能电池,表面污染,表面化学,表面光伏,表面势,表面物理,薄膜,真空研究,功函数工程学;
主要特点
仪器特点:
1)****台商用的完全意义上的开尔文探针系统;
2)*高分辨率的功函数和表面势,*好的稳定性和数据重现性;
3)非零**技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作,与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比,不会收到噪声的影响拥有高灵敏度;
4)高度调节**技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以**控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响,针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移;
5)该领域内,拥有*好信噪比的开尔文探针;
6)快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间,远快于其他公司产品;
7)功能强的驱动器 ——我们选用Voice-coil(VC)驱动器,与通常的压电驱动器相比,VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作;
8)所有开尔文探针参数的全数字控制;
仪器介绍
开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由*上层的1-3层原子或分子决定,所以开尔文探针是一种*灵敏的表面分析技术。
我们的开尔文探针系统包括:
单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);
扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);
超真空(UHV)开尔文探针;
湿度控制的腐蚀开尔文探针;
请登陆http://www.cross-tech.com.cn 公司网站详细了解,更详细信息请与我们联系。
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