铜管电阻率测试仪
金属材料电阻率测试仪
产品名称：金属材料电阻率测试仪
产品型号：GEST-123
参考标准：
GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分：金属材料电阻率试验
GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法
GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
JB-T 6773-1993 金属石墨制品 电阻率试验方法1
产品概述：
金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量
试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。
仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。
仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。
智能金属导体电阻率仪
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照国家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次国内十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。
1、 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。
2、 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、配备专用软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω?㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω?㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛��片。
寿命可测范围 0.25μS—10ms
能够对接地（将电力系统或建筑物中电气装置、设施的某些导电部分，经接地线连接至接地极）、工作接地（在电力系统电气装置中，为运行需要所设的接地）、保护接地（电气装置的金属外壳、配电装置的构架和电路杆塔等，由于绝缘损坏有可能带电、为防止其危及人身和设备的**而设的接地）、雷电保护接地（为雷电保护装置向大地泄放雷电流而设的接地）、防静电接地（为防止静电对易燃油、天然气储罐和管道等的危险作用而设的接地）、接地极（埋入地中并直接与大地接触的金属导体）、接地线（电气装置、设施的接地端子与接地极连接用的金属导电部分）、接地装置（接地线和接地极的总和）、接地网（由垂直和水平接地极组成的供发电厂、变电所使用的兼有泄流和均压作用的较大型的水平网状接地装置）进行接地电阻测量，适用于交流标称电压500kV及以下发电、变电、送电和配电电气装置（含附属直流电气装置）以及建筑物电气装置的接地电阻测量。
二极法测量直流电阻及交流电阻。
三极法、四极法测量接地电阻。
电阻率： 1×10-8～2×106Ω-cm
方块电阻：1×10-8～2× 106Ω/□
电 阻：1×10-8～2×106Ω
导体电阻率测试仪
电绝缘粘合剂体积电阻率测量仪
电绝缘粘合剂体积表面电阻率测试仪
铜管电阻率测试仪
仪器主要技术指标：
一、 测量范围：
测量范围：10-6---105Ω 分辨率 10-8Ω
二、 电压测量：
1． 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V
2． 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3． 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。
三、 恒流源：
1． 电流输出：10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A．
2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)
四、 测量电极：
a.电位电极：电位电极长度≥1M。
b.电流电极：电流电极长度为1.5M。
五、数据打印：
可对测试结果进行打印，显示结果为：体积电阻率、质量电阻率、电阻值
铜管电阻率测试仪
GB 12476.9-2010 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分 试验方法 粉尘层
电线电缆电阻测试仪
电线电缆电阻率测试仪
导体（conductor）是指电阻率很小且易于传导电流的物质。导体中存在大量可自由移动的带电粒子称为载流子。在外电场作用下，载流子作定向运动，形成明显的电流。
本标准规定了粉尘层电阻率的测定方法。
本标准适用于一般工业粉尘。
本标准不适用于**或具有爆炸性质的物质。
本标准等效采用国际电工委员会IEC 1241—2—2(1993)第1版《可燃粉尘环境用电气设备 第2部分：试验方法 第2篇：粉尘层电阻率测定方法》。
电的绝缘体又称为电介质。它们的电阻率极高，比金属的电阻率大1014倍以上。绝缘体在某些外界条件（如加热、加高压等）影响下，会被“击穿”，而转化为导体。绝缘体或电介质的主要电学性质反映在电导、极化、损耗和击穿等过程中。
现今通常把例如锗（Ge）、硅（Si）等一类导体称为半导体。这类导体的电阻率介乎金属与绝缘体之间，且随温度的升高而迅速减小。这类材料中存在一定量的自由电子和空穴，后者可看作带有正电荷的载流子。与金属或电解液的情况不同，半导体中杂质的含量以及外界条件的改变（如光照，或温度、压强的改变等），都会使它的导电性能发生显著变化。
常见故障及处理方法
1、开机时，电源开关指示灯不亮，请检查电源板保险芯，是否熔断。
2、当设备正在升压时，液晶显示“电极杯短路”，请检查电极杯是否装配合理。
3、当设备测出空杯电容值偏离标准值（60pF±5pF）较大时，请检查电源信号电缆保护电极盖上射频头是否松动。
4、当设备升温时，检测不到温度信号，请检测温度信号电缆是否连接正确。
5、当设备不升温时（即无中频加热特有的响声），请检查升温保险是否熔断。
电极杯清洗方法
1、取出电极杯拆开（参见电极杯示意图）。
2、用化学纯的石油醚和苯彻底清洗油杯的所有部件（注意：不要清洗射频座）。
3、用丙酮再次清洗电极杯，然后用中性洗涤剂漂洗干净。
4、用5%的磷酸钠蒸馏水溶液煮沸5分钟，然后用蒸馏水洗几次。
5、用蒸馏水将所有部件（注意保护射频座）煮沸1小时。
6、将部件在温度105～110摄氏度的烘箱中，烘干60～90分钟。
7、部件洗净后，待温度降至不烫手时将其组装好。
便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。
它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。
铜管电阻率测试仪
- 温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
- 免责申明：以上内容为注册会员自行发布，若信息的真实性、合法性存在争议，平台将会监督协助处理，欢迎举报