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电阻率测试仪四根线

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产品名称: 电阻率测试仪四根线
产品型号: GEST-123
产品展商: 北京冠测
产品价格: 0.00 元

简单介绍
电阻率测试仪四根线 金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 电阻率测试仪四根线 试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

电阻率测试仪四根线的详细介绍

电阻率测试仪四根线


金属材料电阻率测试仪

产品名称:金属材料电阻率测试仪

产品型号:GEST-123

参考标准:

 GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验

    GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

JB-T 6773-1993 金属石墨制品  电阻率试验方法1

产品概述:

金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。


电阻率测试仪四根线

电阻率: 1×10-8~2×106Ω-cm
方块电阻:1×10-8~2× 106Ω/□
电   阻:1×10-8~2×106Ω
导体电阻率测试仪

试样处置
电极之间或测量电极与大地之间的杂散电流对于测试仪器的读数没有明显的影响这一点很重要。 测试时加电极到试样上和安放试样时均要极为小心,以免可能产生对测试结果有不佳影响的杂散电流通道。
测量表面电阻时,不要清洗表面,除非另有协议或规定。 除了同二材料的另 一个试样的未被触模过 的表面可触及被测试样外,表面被测部分不应被任何东西触及。
10、条件处理
试样的处理条件取决于被试材料,这些条件应在材料规范中规定。
推荐按 GB/T 10580一2003 进行条件处理;由各种盐溶液所产生的相对温度在 IEC 60260 中给出。
可以采用机械蒸发系统。
体积电阻率和表面电阻率都对温度变化特别敏感。 这种变化是指数式的。 因此必须在规定的条件 下来测量试样的体积电阻和表面电阻。 由于水分被吸收到电介质内是相对缓慢的过程,因此测定温度 对体积电阻率的影响需要延长处理期。 吸收水分后通常会降低体积电阻。 有些试样可能需要处理数月 才能达到平衡。
电绝缘粘合剂体积电阻率测量仪
电绝缘粘合剂体积表面电阻率测试仪

电阻率测试仪四根线


 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量范围:10-6---105Ω  分辨率 10-8Ω

                   二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

a.电位电极:电位电极长度1M

b.电流电极:电流电极长度为1.5M

五、数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、质量电阻率、电阻值


智能金属导体电阻率仪

GB 12476.9-2010 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分 试验方法 粉尘层
电线电缆电阻测试仪
电线电缆电阻率测试仪
导体(conductor)是指电阻率很小且易于传导电流的物质。导体中存在大量可自由移动的带电粒子称为载流子。在外电场作用下,载流子作定向运动,形成明显的电流。 
本标准规定了粉尘层电阻率的测定方法。
本标准适用于一般工业粉尘。
本标准不适用于**或具有爆炸性质的物质。
本标准等效采用国际电工委员会IEC 1241—2—2(1993)第1版《可燃粉尘环境用电气设备  第2部分:试验方法  第2篇:粉尘层电阻率测定方法》。
电的绝缘体又称为电介质。它们的电阻率极高,比金属的电阻率大1014倍以上。绝缘体在某些外界条件(如加热、加高压等)影响下,会被“击穿”,而转化为导体。绝缘体或电介质的主要电学性质反映在电导、极化、损耗和击穿等过程中。
现今通常把例如锗(Ge)、硅(Si)等一类导体称为半导体。这类导体的电阻率介乎金属与绝缘体之间,且随温度的升高而迅速减小。这类材料中存在一定量的自由电子和空穴,后者可看作带有正电荷的载流子。与金属或电解液的情况不同,半导体中杂质的含量以及外界条件的改变(如光照,或温度、压强的改变等),都会使它的导电性能发生显著变化。

电阻率测试仪四根线

11、试验程序
试样按本标准第7章、第8章、第9章、第 10 章进行准备。
测量试样及电极的尺寸、表面间隙的宽度g(两电极之间距离),**}lj士1%。然而,如有必要,对薄试样可在有关的规范中规定不同的**度。
为测定体积电阻率,应按照有关的规范测量每个试样的平均厚度,其厚度测量点应均匀地分布在由被保护电极所覆盖的整个面积上。
注:对于薄试样无论如何在加上电极前测量厚度。
一般说来,应与条件处理时相同的湿度(漫在液体中的条件处理除外)和温度下测试电阻。但有时也可在停止条件处理后的规定时间内进行测量。

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