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导电胶电阻率测试仪

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产品名称: 导电胶电阻率测试仪
产品型号: GEST-123
产品展商: 北京冠测
产品价格: 0.00 元

简单介绍
导电胶电阻率测试仪 金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 导电胶电阻率测试仪 试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

导电胶电阻率测试仪的详细介绍

导电胶电阻率测试仪


金属材料电阻率测试仪

产品名称:金属材料电阻率测试仪

产品型号:GEST-123

参考标准:

 GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验

    GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

JB-T 6773-1993 金属石墨制品  电阻率试验方法1

组成测量线路的绝缘材料,应具有与被试材料差不多的性能。试样的测量误差可以由下列原 因产生:
a) 外来寄生电压引起的杂散电流,通常不知道它的大小,并具有漂移的特点;
b) 具有未知而易变的电阻值的绝缘与试样电阻、标准电阻器或电流测量装置的不正常的分路。 使线路所有部分在使用状态下有尽可能高的绝缘电阻来近似地修正这些影响因素。这种做法可能导致测试设备很笨重,而又不足以测量高于几百兆欧的绝缘电阻。较为满意的修正方法是使用保护技术来实现。
保护就是在所有关键的绝缘部位插入保护导体,保护导体截住所有可能引起误差的杂散电流。这 些保护导体联接在一起,组成保护系统并与测量端形成兰端网络。当线路联接恰当时,所有外来寄生电 压产生的杂散电流被保护系统分流到测量电路以外,任一测量瑞到保护系统的绝缘电阻与一电阻低得 多的线路元件并联,试样电阻**于两测量端之间。采用这个技术可大大地减小误差概率。图1为使 用保护电极测量体积电阻和表面电阻的基本线路。

产品概述:

金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。


智能金属导体电阻率仪

电阻率: 1×10-8~2×106Ω-cm
方块电阻:1×10-8~2× 106Ω/□
电   阻:1×10-8~2×106Ω
导体电阻率测试仪
电绝缘粘合剂体积电阻率测量仪
电绝缘粘合剂体积表面电阻率测试仪

导电胶电阻率测试仪


 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量范围:10-6---105Ω  分辨率 10-8Ω

                   二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

a.电位电极:电位电极长度1M

b.电流电极:电流电极长度为1.5M

五、数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、质量电阻率、电阻值


导电胶电阻率测试仪

GB 12476.9-2010 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分 试验方法 粉尘层
电线电缆电阻测试仪
电线电缆电阻率测试仪
导体(conductor)是指电阻率很小且易于传导电流的物质。导体中存在大量可自由移动的带电粒子称为载流子。在外电场作用下,载流子作定向运动,形成明显的电流。 
本标准规定了粉尘层电阻率的测定方法。
本标准适用于一般工业粉尘。
本标准不适用于**或具有爆炸性质的物质。
本标准等效采用国际电工委员会IEC 1241—2—2(1993)第1版《可燃粉尘环境用电气设备  第2部分:试验方法  第2篇:粉尘层电阻率测定方法》。
电的绝缘体又称为电介质。它们的电阻率极高,比金属的电阻率大1014倍以上。绝缘体在某些外界条件(如加热、加高压等)影响下,会被“击穿”,而转化为导体。绝缘体或电介质的主要电学性质反映在电导、极化、损耗和击穿等过程中。
现今通常把例如锗(Ge)、硅(Si)等一类导体称为半导体。这类导体的电阻率介乎金属与绝缘体之间,且随温度的升高而迅速减小。这类材料中存在一定量的自由电子和空穴,后者可看作带有正电荷的载流子。与金属或电解液的情况不同,半导体中杂质的含量以及外界条件的改变(如光照,或温度、压强的改变等),都会使它的导电性能发生显著变化。

导电胶电阻率测试仪

6.2 **度
对于低于1010Ω的电阻,测量装置测量未知电阻的总**度应至少为±10%。而对于更高的电 阻,总**度应至少为士20%。详见附录A。
6.3 保护
图5和图7给出了电流测量法中保护系统的使用方法,图中指出保护系统接到电源和电流测量装 置的连接点。图6表示惠斯登电桥法,其保护系统接到两个较低电阻值的桥臂的连接点上。在所有情况下,保护系统必须完善,包括对测试人员在测量时操作的任何控制仪器的保护。
在保护端和被保护端之间所存在的电解电动势、接触电动势或热电动势较小时,均能被补偿掉,使 这样的电动势在测量中不会引人显著的误差。
在电流测量法中,由于电流测量装置与被保护端和保护系统之间的电阻并联可能产生误差,因此, 这个电阻宜至少为电流测量装置电阻的10倍,为100倍。在有些电桥法中,保护端和测量端具有 大致相同的电位,不过电桥中的→个标准电阻器与不保护端和保护系统之间的电阻是并联的。这个电 阻应至少为标准电阻的10倍,为100倍。
为确保设备的操作令人满意,应先断开电源和试样的连线进行一次测量。此时,设备应在它的灵敏 度许可范围内指示出元穷大的电阻。如果有一些己知电阻值的标准电阻,则可用来检查设备运行是否良好。

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