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121C点对点对地电阻测试仪	GEST-121体积表面电阻率测试仪	GEST-121B全自动电阻率测试仪	GEST-123T-液态金属电导率测定仪	GEST-20042-炭纸双极板电阻率测定仪	FTDZ-I-粉末电阻率测试仪
GEST-121T高温电阻率测试仪	GEST-121A-全自动绝缘电阻率测试仪	GEST-122-多功能炭素材料电阻率测试仪	GEST-126-全自动粉末电阻率测试仪	GEST-126T-粉尘层电阻率测试仪	FTDZS-I-粉末电阻率测试仪（四探针法）
GCYP-5464油介质损耗及电阻率	GEST-121A1-热刺激电流测量仪	GEST-122A-石墨材料电阻率测试仪	GEST-210-全自动炭块电阻率测试仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	粉末电阻仪加压 GEST-126	粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器. 由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电 阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。
	双极板低阻测量仪器 GEST-20042	本仪器完全依据用户的实际测试需求研发，为用户降低*大的采购成本，本仪器既可以测试垂直方向电阻率，也可以测试水平方向电阻率，真正实现了一台设备，解决炭纸、双极板电阻特性的测试需求。
	粉尘比电阻测试仪器 GEST-126T	粉尘层电阻率测试仪 金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 粉尘层电阻率测试仪试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。
	粉尘层电阻率仪 GEST-126T	粉尘层电阻率测试仪 金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 粉尘层电阻率测试仪试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。
	粉尘电阻率测试仪 GEST-126T	专业术语： 导电粉尘：电阻率等于或小于103Ω.m的可燃性粉尘 非导电粉尘：电阻率大于103Ω.m的可燃性粉尘 电阻率：单位面积与粉尘接触的电极，以单位距离分隔，两电极之间测得的电阻*小值。 测试流程： 按照标准要求，**步测试空槽电阻并记录，**步放置粉尘后测试电阻并记录，按照标准规定的计算公式，计算得到不同电压下的电阻率。
	粉末电阻测定仪 FTDZ-I	本仪器主要用于测试绝缘材料的绝缘电阻、体积电阻及表面电阻值，本仪器是一台通用试验仪器，只要不超过主机的测试量程，都可以测试，配备不同的电极，适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定
	粉末电阻率检测仪 FTDZ-I	粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器. 由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电 粉末电阻率检测仪 阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.
	粉末电阻率测试测定仪器 FTDZ-I	粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器. 由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电 阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.
	四探针薄膜电阻测试仪器 FTDZS-I	该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
	四探针粉末电阻测试 FTDZS-I	四探针薄膜电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针薄膜电阻测试仪
	四探针面电阻测试仪 FTDZS-I	四探针面电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针面电阻测试仪
	四探针电阻仪测试仪 FTDZS-I	四探针电阻仪测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻仪测试仪
	四探针电阻测定仪 FTDZS-I	四探针电阻测定仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测定仪
	四探针电阻测试 FTDZS-I	四探针电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测试仪
	四探针薄膜电阻测试 FTDZS-I	四探针薄膜电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针薄膜电阻测试仪
	高温四探针电阻率测试仪 FTDZS-I	高温四探针电阻率测试仪 金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 高温四探针电阻率测试仪 试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。
	四探针粉末电阻测试仪器 FTDZS-I	四探针粉末电阻测试仪 本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。 四探针粉末电阻测试仪
	四探针薄膜电阻测试仪 FTDZS-I	四探针薄膜电阻测试仪 本测试架有以下特点： 1、  技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、   技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。 四探针薄膜电阻测试仪
	四探针电阻率测试仪 FTDZS-I	四探针粉末电阻测试仪 本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。 四探针粉末电阻测试仪
	四探针炭阳粉末电阻测试仪 FTDZS-I	四探针粉末电阻测试仪 本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。 四探针粉末电阻测试仪

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