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美国伊诺斯Innov-X小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER旋转多样品系统/单样品系统
X射线衍射技术/集成技术
BTX PROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室，该技术曾被美国宇航局火星计划"好奇号"、"漫游者"使用过；XRF技术则是奥林巴斯ED-XRF技术的结晶，两大技术结合，可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息，可减少实验成本，节约时间和空间。BTX PROFILER 采用两套独立的X射线源和探测器，以保证快速获取**上等的数据信息，XRD部分使用CCD二维面探测器，该探测器可以获取整个德拜环的衍射数据信息，XRF部分则采用SDD探测器，实现更低的检测下限和更高的灵敏度。
技术规格
XRD和XRF组合技术
①XRD微聚焦X射线管
②XRD X射线束
③XRD准直器 ④XRD样品
⑤CCD探测器 ⑥XRF X射线管
⑦滤光轮 ⑧XRF X射线束
⑨XRF样品 ⑩ XRF SDD探测器
用于化合物分析的二维XRD
XRD采用透射衍射几何技术，使用能量敏、
位敏的二维CCD面探测器，实现了仪器的小
型化和更为紧凑的结构
1、探测器收集整个德拜环的信息而非传统
台式机只能收集德拜环一个截面的信息，增大
了数据
2、检测快速，全谱显示而非步进扫描，普通样
品 分钟即可
无测角仪的XRD
使用样品振动系统(样品在检测过程中以6000hz的频率随机振动)，替代传统台式XRD测角仪可以实现以下功能：
1、样品制备简单：样品无需制片、压片、刮片，只需得到<150um的颗粒即可； 2、实现样品颗粒的全方位角度的检测
3、完全消除检测过程中晶体的择优取向； 4、增加了样品检测量
用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF
1、大功率射线管，配以超大面积SDD探测器；2、真正实现了在现场进行快速，准确的检测；3、直接显示元素的ppm含量与百分比含量；4、全元素分析，从镁（Mg）到铀（U）之间的所有元素；5、7个滤光片设置，可根据元素自动选择*优滤光片；6、可选配氦气装置进一步提高轻质元素的检测效果
XRD-XRF联用仪/应用领域
BTX PROFILER集成二维XRD技术及ED-XRF技术，可对材料实现**的分析检测，提供材料的元素组成、化学成分、晶体结构等方面的信息。**应用于地质矿产、石油地质录井、地球化学、制药、催化剂、法医、材料等工业及科研领域。
矿物鉴定 XRD录井钻井 催化剂研发 选矿效率
矿石品位 能源勘探 腐蚀物鉴定与防腐
石油地质 **多晶型 材料成分及结构
XRF录井钻井 真假药识别 教育与科研
XRD-XRF联用仪/配置
BTX PROFILER旋转多样品系统
1、仪器配置带4个样品的自动进样系统
2、可选配带20个样品的自动进样系统
3、可按程序设定对20个样品依次检测分析
4、适用于检测样品量较大、分析时间较长、无需操作人员在场的情形
5、可选配氦气净化装置，有利于Mg、Al、Si、P、S等轻元素的检测。
