局部放电测试仪

局部放电测试仪-上海日行电气有限公司
一．概述
 RX局部放电测试仪是上海日行电气有限公司继RX型局部放电测试仪后研制开发生产的又一新颖仪器。它基本上保持了RX的优点和功能，并致力于缩小仪器体积、重量、使之成为名符其实的携带式仪器。该仪器是根据IEC（270）标准，局部放电测试仪利用脉冲电流法原理研制而成.
局部放电
二．技术参数
1．可测试品的电容范围：6pF-250uF
2．检测灵敏度及允许电流（见表1）。
3．椭圆扫描时基
（1）频率：50、100、150、200、400Hz。
（2）旋转：以30度为一档，可旋转120度。
（3）工作方式：标准-扩展-直线。
（4）高频时基椭圆可按输入电压（13-275V）调至正确大小。
4．显示单元
 采用100×80mm矩形示波管，有亮度与聚集调节旋钮。
5．放大器
（1）3dB低频端频率fL：20、40kHz任选。
（2）3dB低频端频率fL：200、300kHz任选。
（3）增益调节：粗调6档，档间增益差20±1dB。
（4）细调范围：>20dB。
（5）局部放电测试仪正、负脉冲响应不对称性：<1dB。

三、测试中的干扰问题
 在局部放电测试中，往往由于外部干扰信号的影响，而使测试结果产生误判断，或者使测试工作根本无法进行下去。局部放电尤其对从事局部放电测试工作经验不多的人，更容易引起误判断。因此，在局部放电测试技术中，消除外部干扰成为一项很重要的技术内容，同时也是花钱较多的一项技术措施。
（一）外来干扰
1．与电源电压无关的干扰
 这种干扰与电源电压（加至被试品上的电压）无关，它不随电源电压的升高或降低而变化。它产生于：电气开关的开闭操作、电焊起弧、吊车开动、整流电机的电刷、闪光灯、无线电电磁波以及各种工业干扰等等。这些干扰通过电源、测试回路和地线等途径侵入进来。
2．与电源电压有关的干扰
 这类干扰一般随电源电压的增加而变大。它可由试区内各个部分产生。例如：试验变压器、高压引线、试品端部、高压线路接触**、局部放电高压试区的绝缘物体与地线）或接地金属物）接触、试区内金属物体接地**、以及其它物体的感应放电等等。与电源电压有关的干扰侵入途径，可以通过电源、高压导线、空间和地线侵入到测试回路内。
（二）消除外来干扰的方法
1．消除与电源电压无关的干扰方法：应从电源、空间、接方式几个方面采取措施。为了消除空间电磁波的干扰，应将试验室加以屏蔽。局部放电对于由电源侵入的干扰，一般在电源进口处加隔离变压器和滤波装置。消除由接地网来的干扰，局部放电测试仪应采取一点接地方式。
2．消除与电源有关的干扰措施：可将高压导线加粗（局部放电用较粗的蛇皮管、薄铁皮圆筒或铝筒）；对被试品端部辊防晕罩；试区内各地线和金属物应良好接地；试区内的绝缘物体严禁与金属接地体接触；在高压线下部地面上不应有螺钉、地线头等金属物体。

四、局部放电测试仪通用试验方法
（一）试验目的：
（1）证实试品在规定电压下没有高于规定值之局部放电；
（2）测定电压上升时出现放电超过某一规定值时的*低电压（起始放电电压）和电压下降时放电低于规定值时*高电压（终止放电电压）。
（3）测定在某一规定电压下的放电强度。
（二）试验条件：（1）交流电源电压应为正弦波，局部放电不应有过大的高次谐波。
（2）试品的电气、机械温度条件应良好且稳定。
（3）由于电压回滞现象的影响，在试验前至少几小时以上的时间内，不要承受超过规定的局部放电试验电压*高值以上的电压。
（4）经过搬运后的试品，必须静放一段时间后再做局部放电试验（油浸）。
（三）试验程序：1．将试验区内的杂物尽量移到试区以外，各种金属体应牢固接地，检查和改善试区内一切可能放电的部位，应特别注意各种地线是否已接地。
2．根据不同的试品和试验条件，选择正确的接线方式。
3．对所选择的测试回路用视在放电量标准器对整个测试系统进行刻度系数校正，校正时对所规定的刻度系数K值调节仪器的增益旋钮，局部放电把H调到H=UoCo/K值。校正完毕后，各种测试仪器的细调（连续调节）增益旋钮不得随意变动，同时应将视在放电器校准器从高压线路上取下，以免在加压试验时将视在放电量校准品击穿而使高压线路短路。
（四）注意事项：1．在试验开始加压以前，试验人员必须详细而**地检查一遍线路，直流电阻测试仪以免线路接错。测试仪器处的接地线是否与接地体牢固连接，质量电阻测试仪技术若连接不牢或在准备工作时接地线被脚踢断，这将可能引起人身和设备事故。切切!
2．对于连接线应避免将**暴露在外，屏蔽罩不能与试品的瓷裙相接触。
3．局部放电试验完毕后，应对整个测试系统再进行一次复查校正，验证是否与试验前所校正出的刻度系数相等，局部放电以免测试仪器或其它环节在试验过程中发生故障而使测试结果不对。

五、局部放电测试仪校正脉发生器的主要技术指标及使用
 校正脉冲发生器是一种小型的可充电电池供销电的视在放电量校准器，它可以分别以四种放电量向试品两端注入1.2kHz左右的校正脉冲，可用于先校准后试验的局放试验中，适合于国际电工委员会IEC-270所推荐的任何一种试验电路。
（一）主要技术参数
电池电压1.25×8V
输出电荷量5、50、500PC或5、10、50、100PC
方波前沿<0.07us
脉宽100us-1000us
内阻<75Ω
重复频率1.2kHz
频率变化>±200Hz
注入电容10pF、100pF或10pF、20pF
（二）使用方法
 首先检查校正脉冲发生器的电池，电量如面板上的电压表，指示在8V以下则需充电，8V以上方能正常工作。
 将输出的红、黑两个端子上接上导线，红端子上的导线尽量短且靠近试品的高压端，黑线导线接试品的低压端，将校正电量开关置于5、10、50、100、500中任何合适一档即可校正。频率可在1.2kHz随机调节。
校正脉冲发生器使用后及时将调节电荷量的波段开关旋在关位置，充电要适时，局部放电测试仪且时间要达到连续16小时。

六、局部放电测试仪常见图谱分析
（1）接触**
这种干扰如图1所示。其特点是干扰波位于椭圆时基的零点附近。在正负半波上对称出现，幅值相差不大。干扰在低电压时即出现。电压增大时，干扰占位区域也增大，由于叠加效果幅值增大较慢。有时在电压达到某一定数值后会完全消失。
造成这种干扰的原因有：试验回路中金属对金属接触**，塑料电线半导电屏蔽层中粒子间接触**，电容器卷绕铝箔电极与插接片接触**等。
（2）浮动电位物体
波形见图2，特别是在电压峰值之前的正负半波部分出现。等幅值间隙不等，由于余辉，有时成对的出现，有时图像有飘动。电压增加时，根数增加，间隙缩小，中间值不变。有时电压增加到一定值后干扰讯号会消失，再降低电压时，又会重新出现。
起因：局部放电金属或碳质导体之间的间隙放电。它可以发生在试样上或测试回路中。常常在两个孤立的导电物之间，例如地面上处于浮动电位的多种物体体间发生。
（3）外部**电晕
波形如图3，特别是仅在试验电压的一个半波中出现，位于外施电压的峰值部分，等幅值等间距。电压增加时，放电讯号波的根数增加，但幅值总不变。
起因：高压电极的**或边缘对空气中的放电。若干扰讯号位于椭圆时基的负半周。局部放电测试仪则**电晕处于高电压下，若干扰讯号位于时基椭圆的正半周，则**在接地部分，有时也可能高压、接地部分都有**电晕放电，则时基椭圆的正负半周就出现两组讯号。
（4）液体介质中的**放电
波形见图4，特别：在试验电压正负半周峰值位置均有一组讯号，同一组讯号等幅值，等间隔，一组中间值较大的讯号先出现，随电压增加中间值也增大。一组中间值小的讯号其幅值不随电压变化。
起因：在绝缘液体中发生了**或边缘电晕放电。或一组大的讯号出现在正半周，则**位高压部分；若它出现在负半周，则**处于接地部分。
（5）继电器、接触器的动作
干扰讯号波形见图5，特点：在时基椭圆上干扰讯号波形分布不规则，间隙地出现，且同试验电压大小无关。
起因：闪光灯，热继电器，接触器和各种火花试验器或有火花放电的记录器动作时造成。
（6）局部放电测试仪可控硅元件
 干扰讯号波形见图6，特点：干扰讯号在时基椭圆上之位置固定，每一无件产生一个独立的高频脉冲讯号。电路接通，电磁耦合效应增强时，讯号幅值增加，也可能发生波形展宽、相移，从而在时基上占位增加。起因：供电网络中有可控硅器件在运行。干扰的大小同所用可控硅器件的功率直接有关。
（7）局部放电异步电机干扰波形见图7，特点：在时基椭圆上正负半波形出现对称的二组讯号，且沿扫描时基逆时针方向移动。起因：异步电机运行时产生的干扰讯号耦合到检测回路中来。
（8）萤光灯干扰波形见图8，特点：在椭圆上时基上出现栏栅状幅值大致相等的脉冲，并伴有正负半波时对称出现的二簇脉冲组。
（9）电动机
干扰波形见图9，局部放电特点：沿椭圆时基均布，等幅值每一个单个讯号或“山”字形。
起因：带换向器的电动机如风扇、电吹风运转时所发出的干扰讯号。
（10）无线电干扰
干扰图见10，特点：沿整个时基椭圆分布的幅值有调制的高频正弦波。
局部放电测试仪起因：高频电力放大器，无线电话、广播话筒等。

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