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- 产品名称：CX-118A晶体测试仪
- 产品型号：CX-117A
- 产品展商：其他品牌
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简单介绍
晶体测试仪
产品简介：
一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。
产品描述
晶体测试仪
产品简介：
一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。
具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。
主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计 ，功能设定
二、主要技术指标：
频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度：25mv
PPm测量：10 Hz — 100 MHz
PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定： ± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms — 10s可设，
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms — 10 s
时基频率：10MC
晶振稳定性：5 ×10-7 / 日
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