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产品资料

OLED 寿命周期测试系统

OLED 寿命周期测试系统
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:OLED 寿命周期测试系统
  • 产品型号:Model 58131
  • 产品展商:Chroma
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
本系统以开放式的PXI架构为硬体基础,可任意扩充测试组数,PXI系统具有先进的 "Hot plug & play"功能,即当测试中的某一待测物发生短路或故障时,仅需移除发生故障之待测物,不影响其他测试中之待测物,系统仍可持续测试,此功能将是PXI架构之*大优点,可大量提升测试效能。
产品描述
主要特色:

独立且精密的量测方式(PMU)

  • 提供高**度的电压及电流
  • 高**度的量测能力
  • 单一待测物故障自我控制,不影响其他测试中的待测物

测试功能

  • 电气特性量测
  • 亮度量测
  • 自行设计输出模式(正负电压及电流)

自动测试及资料载入

  • PXI机箱含嵌入式控制器
  • OLED测试卡 (一张PXI卡可测试两个OLED面板)
  • 每个系统*大可提供34组待测物

选购配备

  • 频谱分析量测光学特性
  • Turnkey 测试解决方案
  • 客制化的测试治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
  • 部分机架可置入滑动抽屉(每个抽屉有四组治具)58131是专针对OLED寿命试验所设计的测试系统,58131可作电气特性的量测,如正负电压、电流的供给及量测、亮度的量测及自动量测OLED亮度寿命时间,并可选购频谱分析卡,量测光学特性的功能。58131采用PRECISION SOURCE-AND-MEASURE UNITS "PMU"的量测方式,此种系统架构,在任何待测物发生短路或开路时,并不会影响其他待测物之量测或造成系统的任何损毁,每张PXI卡片可提供两组独立且精密的电压、电流输出及量测功能,仅需增加PXI卡片即可立即增加量测组数。

    人性化的软体介面,可自行设计电源输出模式、电源参数值、量测时间、亮度校正等项目,并有曲线绘图、资料表显示及储存,让您可轻松分析测试报告。另外,测试治具的设计,便利的19吋机架,可随意移动测试环境,精密轻巧的测试盒,可轻松替换待测物,电脑主机及荧幕组装于机架上,以随时了解测试状况,18个插槽的PXI机箱,可同时检测34组待测物,让你拥有体积*小,待测模组*多的超迷你测试系统。

    58131 PXI OLED Lifetime Test System 为精巧型的测试系统,提供了*好的量测能力,并采用 "PMU"量测方式,及易于操作的人性化介面,为*佳的OLED 寿命周期测试解决方案。

    硬体架构 li>8/14/18槽PXI机箱 li>52941 533MHz/ 52942 800MHz嵌入式控制器 li>52951 电源量测卡 li>选购19"机架 li>选购 LCD Monitor li>选购滑鼠及键盘

    软体操作介面 测试系统提供了Window操作介面,便利的架构可轻易控制电气及亮度测试 li>选择多种电源输出模式 li>测试中可显示曲线图及资料表 li>同时监控34组待测物 li>具有亮度校正功能 li>亮度达到LIFE TIME时,自动停止测试

    客制化的测试治具 li>每个机箱配合 34 组 OLED 测试治具 li>客制化的测试治具,搭配不同待测物,让操作更加便利

    校正 li>独立校正每个模组

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