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产品资料

烧机测试系统

烧机测试系统
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:烧机测试系统
  • 产品型号:Model 58601
  • 产品展商:Chroma
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
烧机-可靠度&老化测试 致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU,温度控制与可符合不同光电半导体。可供发光二极体,雷射半导体,光电侦测器与其他半导体使用。 每个模组*高可测试80组独立SMU,可提供待测物电流与偏压并量测之。
产品描述
主要特色:
  • 适用于烧机与老化测试
  • *多达800通道同时测试
  • *高达40 安培电流输出
  • *高达150度 温度控制
  • 操作员利用Carrier放置待测物
  • Change Kit 设计供测试种类不同待测物

    电流源 
    每片独立的电流电压卡SMU可提供五种不同的电流等级,由5Amp 到20 与40Amp. 独立的电压量测可供高串联数的待测物测试于高电压等级. 多组的电流源也可藉由并联形式提高电流的输出能力。

    高弹性化设计 
    致茂使Conversion Kit由半导体转换到光电半导体使用。应用Conversion Kit于58601烧机测试可以拥有以下的优点:

    • 高密度通道
    • 高电流输出
    • 光电流监控
    • 监控量测光电半导体
    • 暗电流量测
    • 提供偏压
    • 独立电压量测
    • Bypass of Failing Devices
    • 符合各种雷射光电半导体

    高效率运作

    • 提供高温控制,降低老化时间与较少的通道,同时可降低成本,提供快速结果
    • 高密度设计降低使用空间,优于其他设计
    • 通过制造商进行批量测试,Carriers可用于烧机测试与特性测试,软体可主动追踪资料于烧机与特性测试
    • 在利用Change kit 的设计,在相同基础设备下可快速切换供不同种待测物使用,待测物降低成本
    • 精细的probing 方式可提供次系统与高单价包装待测物
    • 热插拔电源模组降低故障机率于MTBF/MTTR测试
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