X荧光光谱仪

EDX600B X荧光光谱仪仪器介绍

集天瑞多年贵金属检测技术的经验，EDX600B使用高效而实用的正比计数盒探测器，以满足贵金属的成分测试和镀层厚度测量的要求。二维的软件控制移动平台和激光定位装置，使样品上测试点的选择更方便和准确；功能齐全的测试软件、友好的操作界面，使测试工作轻松完成。

EDX600B X荧光光谱仪性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
一次可同时分析24个元素
针对不同样品可自动切换准直器
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序

EDX600B X荧光光谱仪技术指标

元素分析范围：从钾（K）到铀（U）
测量对象：固体、液体、粉末
测量精度:0.05%
分析检出限：可达1ppm
分析含量：一般为1ppm－99.9％
多次测量重复性：0.1％
长期工作稳定性：0.1％
温度适应范围：15℃－30℃
测量湿度：≤70％
测量时间：60－300秒
电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)

EDX600B X荧光光谱仪标准配置

单样品腔
二维软件控制自动移动样品平台
激光定位装置。
准直器（8个）自动切换装置（范围0.1mm－0.8mm）
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
计算机及喷墨打印机

EDX600B X荧光光谱仪应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业
尤其是黄金及黄金饰品的含量检测

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