该设备适用于平张式试样的测定与瓦楞深度的测定。符合ISO534纸和纸板单层厚度的测定，纸板紧度的计算方法；GB/T451.3纸和纸板厚度测定方法；GB/T1983松软纸厚度的测定法。QB/T4031-2010中瓦楞型滤纸的厚度及瓦楞深度的测试方法与仪器参数要求。
技术参数：
1.瓦楞全高测厚仪： 测量范围：0-18mm 测量精度：0.001mm 测量压力:20±0.5kpa 测量面积:10±0.2cm2 测量面间平行度:<0.035㎜ 尺寸:80×120×120(㎜) 配重砝码可自由拆卸 2.瓦楞深度计算公式 ：瓦楞深度S=T-t 式中：T--瓦楞全高 t--瓦楞纸厚度
1.瓦楞全高测厚仪：
测量范围：0-18mm
测量精度：0.001mm
测量压力:20±0.5kpa
测量面积:10±0.2cm2
测量面间平行度:<0.035㎜
尺寸:80×120×120(㎜)
配重砝码可自由拆卸
2.瓦楞深度计算公式 ：瓦楞深度S=T-t 式中：T--瓦楞全高 t--瓦楞纸厚度