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产品资料

超高阻双电四探针测试仪

超高阻双电四探针测试仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:超高阻双电四探针测试仪
  • 产品型号:FT-371
  • 产品展商:宁波盘羊
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
FT-371超高阻双电四探针测试仪 一、概述:本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,*大可以测试到1010Ω方阻值,是目前同行业中能测量到的*大方阻值,选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求. FT-371超高阻双电四探针测试仪 双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
产品描述

FT-371超高阻双电四探针测试仪

一、概述:本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,*大可以测试到1010Ω方阻值,是目前同行业中能测量到的*大方阻值,选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输**、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高**度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

FT-371超高阻双电四探针测试仪                                

三、参数资料

1.方块电阻范围:1012×1010Ω/□

2.电阻率范围:1022×1011Ω-cm                           

3.测试电流范围:1mA ---1pA  

4.电流精度:±0.1%读数

5.电阻精度:108Ω以下≤5%  ;108Ω以上≤20%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件; 2.方形探头; 3.直线形探头; 4.测试平台

11.测试探头:  探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形
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