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薄膜测厚仪

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产品名称: 薄膜测厚仪
产品型号: 薄膜测厚仪
产品展商: 其它的品牌
产品价格: 0.00 元

简单介绍
用途: 薄膜检测仪经多年研究而开发成功的一种薄膜测量仪器,对各种薄膜可以**测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等,并且可以与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了检验速度,减轻了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感,经济实用,适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。

薄膜测厚仪的详细介绍


用途:
 薄膜检测仪经多年研究而开发成功的一种薄膜测量仪器,对各种薄膜可以**测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等,并且可以与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了检验速度,减轻了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感,经济实用,适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。
主要参数:
型 号
数显分辨率
*大示值误差
测量范围
BM10-01
0.1μm
±(0.4+0.04L)μm
0-10mm
BM10-001
0.01μm
±(0.1+0.01L)μm
0-10mm
BM10-0001
0.001μm
±(0.03+0.003L)μm
0-10mm
注: L为光电传感器的实际使用范围(单位:mm), Lmax=10
构成:
    由光电传感器、测量座(标准式或便携式)、抬落机构(电动式、快门线式、手提式)、数显表(参看交流或直流数显表说明)等部分组成。
特点:
检定快速,准确。
测量值由数显表直接显示,读数方便可靠,减少人为读数误差(参看交流或直流数显表说明)。
独特的设计使仪器结构稳定性很高,温度稳定性很好。
测量重复性好,漂移量很小。
可实现任意位置清零、公/英制转换、预先置数、自动求*大值和*小值等多种智能功能。
可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等。
对环境温度波动相对不敏感,现有基层计量室不必提高温控要求即可使用。
可根据用户的特殊需要进行单独设计
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