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- 产品名称:数字集成电路多参数筛选测试仪GT2100A
- 产品型号:数字集成电路多参数筛选测试仪 GT2100A
- 产品展商:其它品牌
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简单介绍
数字集成电路多参数筛选测试仪GT2100A目前,对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试,已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较,因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低,
产品描述
数字集成电路多参数筛选测试仪GT2100A
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目前,对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试,已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较,因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低,用这类仪器测试通过后的IC,有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!
GT2100A数字集成电路多参数筛选测试仪,帮助您解决这类烦恼! GT2100A 数字集成电路多参数筛选测试仪,利用**的多值参数比较法,可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。 数字集成电路多参数筛选测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用,也适合科研、学校、**、IC经销商使用。 系统的主要特点:
1. 测试电源拉偏状态下,输出电平加载测试。 2. 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时,完成真值表功能测试。 3. 真值表功能测试的同时,完成“三态”(高阻状态)漏电流测试。 4. 对IC输入电流、功耗电流测试。 5. 输入漏电流及交叉漏电流测试。 6. 测试过程无须人工干预。 7. 用户可以自选测试模式,使用方便、操作简洁。 8. 可自动识别74系列中的CMOS器件。 9. 可以查找未知IC的型号。 产品主要性能:
在功能测试的基础上 1. 测试器件的输入端注入电流。 2.测试器件的输入端交叉漏电流。 3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。 4. 测试器件的输出负载电流。 5. 测试器件的功耗电流。 6.查找未知芯片型号。 7. 可以单次测试,也可以循环测试. 8.可自动识别74系列中的CMOS器件(如:74C、74HC、74HCT等)。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时,仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字(此时被测器件电源为TTL电源)。 多值测试参数:
1.8种可选择的测试电源。 2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。 3. 多种测试电压比较值。 4. 功耗测试。 以上参数的不同组合构成不同的测试模式,其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。 测试模式:
1.模式O: 全组合参数测试。 2.模式1-C:操作与模式O相同,但各有其不同的测试参数数值。 3.模式D: 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。 4.模式E: 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。 5.模式F: 自编程测试。 测试范围及测试品种: 28Pin 1. 54 系列;4500 系列; 2. RAM 256K bit 3.74 系列;40000 系列; 4. EPROM 64K bit 5. 4000 系列;C00 系列。 6.光耦 |
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