。时代超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器，采用微电脑对数据时行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路，具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。凡能,使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。TIME2113超声波测厚仪可以对各种板材和加工零件作**测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。本仪器显示分辨率为0.01，可测量比TT100更为精密的工件。,TIME2113超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度

等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如铁和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料

W-M-250型美国NDT James混凝土回弹仪用以测试混凝土的抗压强度，是现场检测用的*广泛的混凝土抗压强度无损检测仪器。这是获取混凝土质量和强度的*快速、*简单和*经济的测试方法。

的便携式测量仪器， 采用磁感应和电涡流原理。测量方法符合国际标准ISO2178,ISO2360和国家标准GB4956,GB4957.它采用计算机技术,无损检测技术等多项先进技术,无需损伤被测体就能准确地,铁基涂层测厚仪 铝基涂层厚度检测仪 分体式传感器 便携式测厚仪型号 ：AODB-CM-8856铁基涂层测厚仪 铝基涂层厚度检测仪 分体式传感器 便携式测厚仪1 . 特性* 本仪器是用电池供电,测量出它的厚度.铁基涂层测厚仪 铝基涂层厚度检测仪 分体式传感器 便携式测厚仪* F型探头可直接测量导磁材料（ 如铁、镍） 表面上的非导磁覆盖层厚度（ 如： 油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬

CT120超声波测厚仪（高温500度）是集当代电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器，采用微电脑对数据进行分析、处理，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可用该仪器进行测量。本,仪器可以对各种板材和加工零件作**测量。CT120超声波测厚仪（高温500度）不但能检测高温材料厚度，也能检测一般工件；该仪器广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域，特别适用于锅炉、压力容器等高温条件的测试。

现场混凝土抗渗装置目前我国采用的混凝土抗渗等级评定方法已不能满足评定混凝土抗渗实际等级的要求，混凝土现场抗渗性能检测仪是根据建筑工程实际需要而研制的混凝土渗漏系数测试装置，该仪器适用与测定混凝土的抗渗等级。　　现场混凝土抗渗装置检测仪为无损检测仪器，操作简单、快捷、自动化程度高，内置专家分析系统。

钢筋检测仪，是一种 手持式无损检测仪器。可用于钢筋混凝土结构施工质量的检测：能够在混凝土表面确定钢筋的位置、布筋情况、测量混凝土保护层厚度、钢筋直径等；此外，也可对混凝土结构中的磁性体及导电体的位置进行检测，如墙体内的电缆、水暖管道等。施工前的探测可以有效避免施工中对这些设施的损坏,减少意外的发生。

覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,AS930 涂层测厚仪AS-930 涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如铁和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电,。高校匀浆机??多头磁力搅拌器生产???恒温油浴锅加工???学校循环低温水槽???院校脱色摇床??生化培养箱定做???低温恒温槽厂家??产品老化试验箱??科研人工气候箱??搅拌器非标加工???培养箱定制???恒温恒湿干燥箱尺寸??高校水浴锅???实验室振荡器???学校型摇床

食品重金属快速检测仪系列EDX 3200S PLUS进口替代产品说明、技术参数及配置EDX3200S-PLUS(食品重金属快速检测仪)属于江苏天瑞仪器股份有限公司自主研发的产品，设备采用了能量色散X,对元素进行定量分析。目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、**等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限*低可达0.03,射线荧光光谱（EDXRF)技术实现食品中微量重金属有害元素的快速检测，设备采用了*先进的探测器和激发源等硬件配置。用大功率的X射线照射样品，样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线，不同元素的特征,能量各不相同，通过半导体探测器分别测量不同元素特征能量的X射线的强度，就可以进行定性分析。而样品受激发后发射的某一元素的特征X射线强度与元素在样品中的含量有关，因此通过建立元素与含量的数学模型后，就能