EMC系列校验千分尺,卡尺用 EMC-1-0
EMC系列校验千分尺,卡

详细内容 EMC系列校验千分尺,卡用 规格 寸(mm) 长度(mm) 误差 粗糙度 硬度 2.5-10.0 20 ±0.3um 0.5um 58HRC以上 15.00-25.00 20, 0.5um 0.5um 58HRC以上 套装 套装型号 寸mm 数量 EMC-1-10 2.50,5.00,5.12,5.25 10 5.37,5.50,1

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美国基于PC的激光扫描千分尺 Laserlinc122/222
美国基于PC的激光扫描千分尺

美国基于PC的激光扫描千分尺由计算机供电和信号处理的激光扫描千分尺,测量直径从细线40μm到轴直径120mm。细线分辨率0.0052μm,重复性±0.05μm,*大直径120mm分辨率0.025μm,,重复性±1μm。产品有:Laserlinc122单轴一体式激光扫描千分尺,量程22mm;Laserlinc122S单轴分体式激光扫描千分尺,量程22mm;Laserlinc222双轴激光扫描千分尺,量

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普通数显千分尺40EX 带数据输出的普通数显千分尺 40 EX
普通数显千分尺40EX 带数据输出的普通数显千分尺 40 EX

带数据输出的普通数显千分尺 40 EX 普通数显千分尺40EX具有读数显示清晰、易读 ,数据输出线与Opto RS232C接口或者Digimatic接口相连接 ;测力装置一体化,带有数据输出线。

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日本三丰MITUTOYO|103-101-10 外径千分尺 103-177, 103-131, 103-178, 103-132
日本三丰MITUTOYO|103-101-10 外径千分尺

日本三丰MITUTOYO|103-101-10 外径千分尺,日本三丰MITUTOYO|外径千分尺103-177, 103-131, 103-178, 103-132, 103-179

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超声波试块 CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA
超声波试块 CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA

CSK-IA超声波试块。材质:碳钢寸:300mmL*100mmW*25mmT主要用于:1)R100测定斜探头的入射点和前沿长度。CSK-IIIA超声波标准试块 1.游标卡,2.千分尺3.微孔,测量仪,4.三坐标测量仪,5.超声波探伤仪,6.平底孔硅橡胶覆膜检验,7.万能金相显微镜,8.样板平,9.粗糙度仪.

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TESA卡尺,TESA千分尺,TESA测量仪 TESA卡尺,TESA千分尺,TESA测量仪
TESA卡,TESA千分尺,TESA测量仪 TESA卡,TESA千分尺,TESA测量仪

TESA卡,TESA千分尺,TESA测量仪 TESA卡,TESA千分尺,TESA测量仪

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外径千分尺 107系列
外径千分尺

带有指针式千分表,可对批量生产的工件直接进行GO/NO-GO判断可缩进测砧能够提高测量速度测砧缩进范围:4mm测量面带有硬质合金头带有一个基准杆(不包括25mm/1”型)

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日本 MITUTOYO  端子外径千分尺 112-401
日本 MITUTOYO 端子外径千分尺

日本 MITUTOYO 端子外径千分尺特点:一:适用于测量卷曲部分的高度.二:棘轮锁定可保持恒定测力.

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盘式外径千分尺 盘式外径千分尺
盘式外径千分尺 盘式外径千分尺

盘式外径千分尺 产品名称: 盘式外径千分尺 制 造 商: 三丰(MITUTOYO) 产品简介: 编号:123﹣101 规格:0~25×0.01mm,测砧Φ20mm 编号:123﹣102 规格:25~50 ×0.01mm,测砧Φ20mm 编号:123﹣103 规格:50~75×0.01mm,测砧Φ20mm

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QUJ型 漆膜测厚仪  测 厚 系 列
QUJ型 漆膜测厚仪 测 厚 系 列

经受住与千分尺卡头紧密接触时而无压痕。设备仪器:(1) 测厚仪:精度达到2μm,重复性高(2) 千分表每年需经省市**法定计量部门鉴定。,QUJ型 漆膜测厚仪 依据GB/T 13452.2-92、ISO 2808-1984设计制造。是利用千分表刻度盘指示被测物的厚度以μm表示。适用于测量磁性、非磁性物体上涂层膜层厚度。漆膜必须硬到足以

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外径千分尺0-25MM A3623061
外径千分尺0-25MM

外径千分尺0-25MM品牌:美国SATA外径,千分尺,0-25MM

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端子千分尺 端子千分尺
端子千分尺 端子千分尺

端子千分尺 端子千分尺可供品牌产地:日本三丰/广西桂林/中国上海/中草青海 1)喷漆架、硬质合金量面 2)可预置公差并判定所测工件寸是否在公差范围内。 3)用于测卷曲部份的高度..

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数显外径千分尺 293-340
数显外径千分尺

数显外径千分尺达到IP65防护标准,能够用于各种环境,如暴露在切割油等环镜下使用. 具有测量数据输出功能,带有防水连接电缆. 所有塑料元件均由防油材料制成±1μm增量误差(用于测量范围在75mm/3

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TESA内径千分尺 千分尺
TESA内径千分尺 千分尺

千分尺 TESA内径千分尺

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千分尺支架,千分尺座,千分尺架 支架
千分尺支架,千分尺座,千分尺

千分尺支架,千分尺座,千分尺架此款托架款式新颖,用于支撑千分尺架,方便千分尺使用,不用拿手扶着,加快测量速度。

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