美国杜克Duke 3000系列纳米级尺度标准粒子美国杜克Duke 3000系列纳米级尺度标准粒子

防止吸入纳米级颗粒。该设备是小型且经济实惠的型号，与主机和控制电源相结合，追求仅在桌面上更容易操作。 它能够处理多达4“晶圆的沉积，并对每个部件采取**措施

泰为佳FM内置天线具有体积小，价格低，用材为新型纳米级复合型材料，质量可靠，摆脱了传统的耳机线过长，携带起来不方便，而又对人体的耳朵造成的伤害，长期处在耳机模式下也容易对人体电波的干扰，而内置天线

差分式迁移电分级器配合DMA一起使用，用于对从亚微米到纳米级气溶胶粒子范围的粒子分布情况进行筛选和测定的仪器.

原子力显微镜 AFM 是利用测量探针与样品之间的作用力，进行纳米级的*高精度扫描分析。 除了表面形貌还可以采用不同的测量模式分析材料的其他特性。扫描范围从20um

HM2000/HM500德国费希尔微纳米硬度计FISCHERSCOPE? HM2000系列微纳米硬度计及PICODENTOR? HM500纳米硬度计 HM2000具有三种不同的版本－手动、半自动或全自动测量马氏硬度。PICODENTOR? HM500尤其适合于测量极薄的纳米级涂(膜)层。

德国OPTACOM VC/LC系列轮廓粗糙度测量仪独有的CNC全自动X、Z全量程范围轮廓测量，任意位置粗糙度评定。纳米级针尖分辨率，软件智能调节测量速度，一次扫描测量过程，同时完成轮廓及粗糙度双项

Profilm3D具有3倍於于其成本仪器的次纳米级垂直分辨率, Profilm3D 同样使用了现今*高分辨率之光学轮廓仪的测量技术包含垂直扫描干涉(VSI)及相移干涉(PSI)。

纳米级恒温提拉涂膜机--PTL-NMB

Duke 标准粒子3000 系列——-纳米尺寸标准粒子(15mL包装,1%固体含量)3000系列的纳米尺度标准微粒是均一的聚苯乙烯微粒，由NIST可溯源的纳米级计量法标定。1纳米是1米的十亿分之一,长度，0.001微米（μm） ，或10个埃单位。纳米微粒尺度标准是标定电子和原子力学显微镜的理想产品。也广泛用于激光光散射研究和胶体体系研究。

纳米级ATO(锑掺杂氧化锡)

设计与操作： SP系列微型干涉仪为纳米级精密测长仪器。采用平面镜或具有光学特性的反射表面为靶镜，并允许有若干分的准直角度误差而不影响激光束的正常工作。利用光纤耦合技术将激光器与干涉系统

HCT 水基凝聚核粒子计数器 (CPC)4322和4323可以满足在硬盘和TFT-LCD的生产过程中及半导体产品的处理过程中对纳米级悬浮粒子浓度进行快速的检测和报警的需要。