扫频图示仪 BT-3D(1000MHz)
扫频图示仪 BT-3D(1000MHz)

、100/10MHz、10/1MHz的复合频标,79dB电控数显衰减功能,7英寸方形绿色显示屏,使对各种有源、无源如宽带放大器、雷达、高频放大器、高通、低通、带通滤波器频率特性的测试变得方便、快捷、**,扫频图示仪BT-3D(1000MHz) BT-3D系列扫频图示仪是一中自带显示,能在1-300MHz(650MHz、1000MHz)频率范围内实现全扫、宽扫、窄扫、点频的超高频测量仪。100MHz

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红声HS5661C声级计 HS5661C
红声HS5661C声级计 HS5661C

红声HS5661C声级计测量各种机器、车辆、船舶电器等工业噪声测量,适用于工业企业、环境保护、劳动卫生、教学、科研等领域。HS5661C声级计内置分数倍频程滤波器,可以手动或自动选择滤波器中心频率。

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抖动仪 FL-140
抖动仪 FL-140

日本建伍FL-140抖动仪,3K/3.15KHz,0.03%~100%,有效值,峰值指示,带加权滤波器

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微波计数器/功率计/数字多用表   53147A
计数/功率计/数字多用表

计数/功率计/数字多用表 通道1分辨率:可选1Hz至1MHz 低通滤波器:50kHz,可选

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传感用模块式ASE宽带光源 SR-AS4500 SR-AS4600系列
传感用模块式ASE宽带光源 SR-AS4500 SR-AS4600系列

,还具有简便和智能的操作与远程控制。该产品中光路进行了特别的优化,专业设计的GFF(增益平坦滤波器)使得平坦度和光谱稳定性达到非常优异的水平。可提供C-Band和C+L Band平坦化产品。,该模块式ASE(放大自发辐射)光源专为FBG(光纤布拉格光栅)传感系统设计,光源主题部分是增益介质掺铒光纤和高性能的泵浦激光,独特的ATC和APC电路通过控制泵浦激光的输出保证了输出功率的稳定

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RC50H粗糙度仪 RC50H
RC50H粗糙度仪 RC50H

RC50H粗糙度仪技术参数*大行程: 25mm滤波器: 高斯(Gaussian)滤波器(ISO11562:1996)Rc滤波器截止长: 0.25,0.8,2.5测量重复性: 4%

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ZC25系列兆欧表
ZC25系列兆欧表

ZC25系列兆欧表本表外壳由高强度铝合金组成,机内设有等电位保护环和四阶有源低通滤波器,对外界工频及强电磁场可起到有效的屏蔽作用。

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ZX8517C变压器测试仪 ZX8517C
ZX8517C变压测试仪

ZX8517C变压测试仪/ZX8517CX滤波器测试仪系列,采用480*272彩色TFT显示屏幕,其0.1%的基本精度,50Hz~100k Hz的频率范围,低分布电容,可提供更高精度滤波器测试要求,在同一个测试画面显示所有数据,一目了然,快速分辨出**品的具体特性。

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西班牙LIFASA 滤波电感器
西班牙LIFASA 滤波电感

深圳市长盛实电力设备有限公司现货代理经销西班牙 LIFASA 滤波用电感,LIFASA 低压补偿电容器,LIFASA 低压补偿控制,LIFASA 有源滤波器,LIFASA 低压补偿电容柜,LIFASA MC 电容专用接触,LIFASA CTF 系列静态晶闸管开关等等

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Quick206D大功率无铅焊台 206D
Quick206D大功率无铅焊台 206D

Quick206D大功率无铅焊台,东莞Quick206系列大功率无铅焊台价格,圣翔206D大功率焊台,太阳能光伏组件,接地端子,滤波器接焊,大焊点焊接首先150W、180W、200W、320W大功率无铅焊台。

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 噪声类/声级计类/分数倍频程滤波器  M353093
噪声类/声级计类/分数倍频程滤波器

噪声类/声级计类/分数倍频程滤波器 性能:滤波器符合GB/T3241和IEC61260标准。噪声类/声级计类/分数倍频程滤波器 用途:各种机器、车辆、船舶电器等工业噪声、吸隔声材料测量,适用于工业企业、教学、科研等领域。

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YD-28A-动态电阻应变仪 YD-28A
YD-28A-动态电阻应变仪 YD-28A

YD-28A-动态电阻应变仪直流电桥自动平衡内设低通滤波器四位半数字显示量程:0~±100000με

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SKK-S-1200W开关电源 SKK-S-1200W开关电源
SKK-S-1200W开关电源 SKK-S-1200W开关电源

SKK-S-1200W开关电源1、内置EMI滤波器2、100%负载老化3、具有过压,过流及短路保护4、1年保修

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薄膜测厚仪 型号:M36861 |报价|参数|midwest M36861
薄膜测厚仪 型号:M36861 |报价|参数|midwest M36861

薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来

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