超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪
超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪基于光谱反射原理, 即在一定的波长光波下,通过追踪被带有层状结构的基片反射和/或投射的光束来实现测量膜层厚度测量薄膜厚度范围可达1nm -1000 um,。一般20ms可以得到测量结果。而且超高精度MProbe薄膜测厚仪尺寸非常小巧,8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪非常适合实验室,产品质量检测,研发使用。

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硅片厚度测量仪 硅片厚度测量仪
硅片厚度测量仪 硅片厚度测量仪

硅片厚度测量仪 硅片厚度测量仪 · 硅片厚度数据的管理方法1、数据收集功能(选配)用RS-232功能+数据计算环软件的组合,在测量每个工件时数据就自动的传送给PC。2、打印功能在显示部件上连接选配的BCD输出,打印机,在每个工程测量时,测量数据就自动的进行打印输出。· 特长适用于各种硅片的尺寸(3,5,6,8,12英寸)更换规格时(更换档位销)用提升杠杆发打印输出指

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植物叶面厚度测量仪/叶片测厚仪 托普 YH-1
**代理植物叶面厚度测量仪YH-1/叶片测厚仪

**代理植物叶面厚度测量仪YH-1/叶片测厚仪 叶片是植物*重要的器官,其形态变化可以反映出植物生长状态的变化,如光合作用、水分情况、养分情况等。研究表明,叶片厚度变化具有周期规律性,可分为长周期和,短周期(24小时)。掌握这些规律对研究植物水分状态具有重要意义。**代理植物叶面厚度测量仪YH-1/叶片测厚仪

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维修尼康高度计 MF-1001
维修尼康高度计 MF-1001

维修尼康高度计,型号:MF-1001.尼康高度计深度或厚度测量仪器,量程小于100mm的产品高度、厚度与深度测量。高精度高效测量,是高精度产品生产企业*佳选择。

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TT270N型涂层测厚仪 TT270系列涂层测厚仪
TT270N型涂层测厚仪 TT270系列涂层测厚仪

TT270系列涂层测厚仪 TT270N型涂层测厚仪是一种便携式厚度测量仪,TT270N型涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度测量。本器采用了涡流测方法,能测非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

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Elcometer101涂层测厚仪 Elcometer101
Elcometer101涂层测厚仪

Elcometer101涂层测厚仪:Elcometer101是世界上**款的便携式涂层厚度测量仪,*早生产于1947年。相其它测量仪,该器仍具有不少优势。

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英国易高涂层测厚仪  101
英国易高涂层测厚仪

英国易高涂层测厚仪 是世界上**款的便携式涂层厚度测量仪,*早生产于1947年。相其它测量仪,英国易高涂层测厚仪器仍具有不少优势。

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TECLOCK厚度测量仪 SM-112
TECLOCK SM-112厚度测量仪

TECLOCK SM-112厚度测量仪主要用于测量纸张、橡胶、织物及各种金属板材、玻璃板等的厚度测量固定于表架上的指示表测头测量面相对于表架测砧测量面的直线位移量(厚度),并由指示表进行读数,的测量器具,手持表盘式测表将测量物夹在测量头和测量钻之间进行。按下升降杆测量头则上升,松开即返回到0点。和百分尺等测量器相比TECLOCK SM-112厚度测量仪有操作简单,时间短的特性,测量头及测量砧采用陶瓷制品,耐磨性高,永不生锈。

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鞋帮厚度测量仪 XK-9022
鞋帮厚度测量仪/靴帮厚度测量仪

鞋帮厚度测量仪/靴帮厚度测量仪用于测量鞋帮的厚度,鞋帮厚度应包括任何有关联的织物层。鞋帮厚度测量仪/靴帮厚度测量仪测量时置于桌上,有荷重装置,在一定的面积与一定荷重下,所量出的物件厚度为准确性确。台式设计,外观设计精美,具有使用方便、读数准确,体积小、重量轻,方便携带等特点。

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日本尼康高度计 MF-1001、MFC-101
日本尼康高度计 MF-1001、MFC-101

日本尼康高度计,型号:MF-1001、MFC-101。日本尼康高度计,高精密型高度,深度或厚度测量仪器。

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织物厚度测量仪 TSE-A031A
织物厚度测量仪

织物厚度测量仪属纺织类测试器,厚度计一种实惠而准确的软材料厚度计,其计量天平可通过1.129英寸(28.7mm)直径的压脚向试样施加*小的负荷。

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霍尔效应测厚仪 Magna-Mike 8500
霍尔效应测厚仪

美国泛美Magna-Mike 8500霍尔效应测厚仪是一种手持式,操作方便的厚度测量仪。典型客户:佛山南方包装有限公司。

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涂层测厚仪/涂层测厚计/涂层测厚检测仪/测厚仪恒奥德  HQ3-TM1200NF
涂层测厚仪/涂层测计/涂层测厚检测仪/测厚仪恒奥德

涂层测厚仪/涂层测计/涂层测厚检测仪/测厚仪恒奥德HQ3-TM1200NF 涂层测厚仪是以电涡流方法工作的涂层厚度测量仪器的设计符合: IS02361 和 GB4957标准,适用于非导磁金属基体上非导电履盖层厚度测量

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