MJR FOT-12AX 光功率计
MJR FOT-12AX 光功率计

FOT-10A光功率计具有许多更贵仪表具有的优点。其内的微处理器和线性放大器技术保证长时间校准。三种型号可满足通常使用的波长和功率范围要求。

在线询价
咨询 | 联系
3510型原子吸收分光光度计 3510型
3510型原子吸收分光光度计 3510型

波长范围:190.0nm-860.0nm波长准确度:全段≤±0.5nm波长重复性:≤ 0.3nm闪耀波长:250nm光谱带宽:0.1nm.0.2nm,0.7nm,1.4nm(开关选择)

在线询价
咨询 | 联系
红外测温仪 GM1350
红外测温仪 GM1350

红外测温仪 GM1350测量范围: -18~1350℃(0~2462℉) **度:±1.5% or ±1.5℃ 物距比: 50:1发射率: 0.10~1.00可调 分辨率: 0.1℃/0.1,℉响应时间500毫秒响应波长: 8-14μm*大值/*小值/平均值/差值高低温报警设置测量数据储存功能℃/℉温度单位转换定位激光开/关选择

在线询价
咨询 | 联系
维萨拉CARBOCAP ®二氧化碳模块GMM111 GMM111
维萨拉CARBOCAP ®二氧化碳模块GMM111 GMM111

;先进的单光束、双波长测量,无移动部件; 测量范围选项0~5%、0~10% 以及0~20%; **的长期稳定性。

在线询价
咨询 | 联系
真零级波片 ZLJBP
真零级

真零级片,可适用较大的入射角,适用温度范围宽,有高的损伤阈值,适用波长的带宽较宽。

在线询价
咨询 | 联系
UV2000紫外可见分光光度计 UV2000
UV2000紫外可见分光光度计 UV2000

UV2000紫外可见分光光度计和UV-2100紫外可见分光光度计将2000和2100型可见分光光度计的测试范围扩展到了紫外段;UV-2102C/PC/PCS紫外可见分光光度计具有更高的波长准确度,(±0.3nm)和波长重复性(±0.2nm),其中UV-2102PC/PCS使用随机赠送的尤尼柯计算机应用软件,可实现光度测量、光谱扫描、定量分析、时间扫描、DNA测试等功能。

在线询价
咨询 | 联系
数字照度计DE3350 DE3350
数字照度计DE3350 DE3350

数字照度计DE3350简介★光度计范围:400~700 ★光谱响应中心波长:550 ★测量范围:200/2000/20000LUX

在线询价
咨询 | 联系
便携式看谱镜   WX-5
便携式看谱镜 WX-5

技术参数:波长范围 390-700nm ;分辨本领 0.05-0.11nm 目视可分开下列线对 Fe 613.66 和613.77nm ;Fe 487.13 和487.21nm ;Mn 476.59

在线询价
咨询 | 联系
台湾先驰红外线测温仪ST-630 ST-630
台湾先驰红外线测温仪ST-630 ST-630

) ±2% 读数或 ± 2 ℃ 取*大者 波长范围 5~14μm 可重复性 ± 1 ℃ (± 2 ℉ ) 分辨率 1 ℃ or 1 ℉ 响应时间 500ms 发射率 0.95 ,台湾先驰红外线测温仪ST-630/红外线测温仪ST-630 距离目标之比 8:1 温度范围 -20~ 320°C (-58~ 1830 ℉ ) 准确度 ( 25°C / 77°F

在线询价
咨询 | 联系
SS/SI 系列红外测温仪 SS/SI
SS/SI 系列红外测温仪 SS/SI

SS/SI 系列红外测温仪 高性能一体化红外测温仪带激光瞄准。温度测量范围从250℃~1800℃(分段). 模拟0/4 ~ 20mA输出. 数字通信RS232或RS485*大57.6kBd(可选,). 短段的测量波长特别适合测量250℃以上非氧化金属的表面温度. 优异的光学系统可测量*小1.3mm的目标. 独特的峰值选取及滤功能确保获取稳定可靠的读数.

在线询价
咨询 | 联系
阿贝折光仪 DR-M4
阿贝折光仪 DR-M4

阿贝折光仪,在波长范围450至1,100nmn、可用不同的波长范围测量折射率或Abbe数值(vd或ve。) (在波长范围681至1,100nm内测量,需使用近红外线(RE-9115)观察镜。折射率或Abbe 的测量结果会在数字液晶显示器上显示。

在线询价
咨询 | 联系
361CRT型原子吸收分光光度计 361CRT型
361CRT型原子吸收分光光度计 361CRT型

波长范围:190-900nm 波长精度:±0.5nm 波长重复性:优于±0.1nm

在线询价
咨询 | 联系
PT-305红外线测温仪 PT-305
PT-305红外线测温仪 PT-305

◆温度范围: -40~510℃ 〈br〉◆D:S=10:1 〈br〉◆检出波长: 8~14um 〈br〉◆测定精度:读取值±1%或2℃〈br〉◆放射率:ε=0.95〈br〉◆重复性:读取值的±1℃

在线询价
咨询 | 联系
薄膜测厚仪
薄膜测厚仪

薄膜测厚仪可快速**地测量透明或半透明薄膜的厚度,其测量膜厚范围为15nm-50um,仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率,并且采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧,方便于在实验室中摆放和使用

在线询价
咨询 | 联系
展位咨询:0756-2183795