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- 产品名称：TE275分辨率测试卡
- 产品型号：
- 产品展商：三恩驰3NH
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简单介绍
TE275分辨率测试卡设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率；
TE275分辨率测试卡在2014年2月发布的ISO标准12233的修订版中指定。
产品描述
TE275分辨率测试卡
分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)介绍
TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。该测试卡在2014年2月发布的ISO标准12233的修订版中指定。
在TE268和TE253（正弦西门子星）和TE252（分辨率的视觉评估）旁边，斜边是ISO 12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。
分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平边缘，并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5°，并具有ISO 12233：2014要求的低对比度（调制在0.55和0.65之间）。背景根据ISO12233：2014提供0.15和0.25之间渐变。
斜边以一种方式布置，以在轴向信息上递送50％场位置（4:3纵横比）和70％场位置处的信息。
三个黑点可用于目标的自动检测。这种不对称布置的结构还有助于检查和校正目标的取向。
分辨率测试卡TE275可以使用框线和箭头用于4：3或3：2宽高比。
16个OECF色块的反射率和排列符合ISO 14524.通过对这些色块的分析，可以确定OECF并且线性化图像数据。
OECF色块、背景和斜边的参考：
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Step
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参考密度
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1
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1.78
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2
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1.56
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3
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1.38
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4
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1.22
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5
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1.08
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6
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0.95
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7
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0.83
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8
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0.72
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9
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0.62
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10
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0.53
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11
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0.44
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12
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0.36
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13
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0.29
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14
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0.14
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15
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0.21
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16
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0.08
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斜边
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1.30
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背景
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0.70
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TE275分辨率测试卡参数:
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型号
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TE275
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尺寸：
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1066.67
x600mm
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材料
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高清相纸
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比例
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4:3/3:2
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类型
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反射式
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