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E4991A 射频阻抗/材料分析仪是一款高性能的测试仪器,主要用于**测量电子元器件和材料的阻抗特性。它具备强大的分析功能,在研发和**中非常有用。
下面是一个快速了解 E4991A 的表格:
特性维度 | 说明 | 备注/来源出处 |
---|---|---|
核心定位 |
旗舰级高频阻抗分析仪, 专为1 MHz - 3 GHz高频电子元件测试设计 |
覆盖射频/微波领域 |
基本阻抗精度 | ±0.8% | 在宽阻抗范围内提供更**的测量 |
频率范围 | 1 MHz 至 3 GHz | 分辨率可达 1 mHz |
振荡器电平 | 高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms | |
DC偏置能力 | 选件 E4991A-001: ±40 V 或 ±50 mA |
可直接测试偏压下的器件 (如变容二极管) |
测试端口 | 标配4端口(2个测量端口 + 2个独立源端口) | 支持差分/共模测试 |
显示与界面 |
10.4 英寸彩色LCD触摸屏, Windows风格用户界面,内置VBA编程功能 |
可同时显示多组测量曲线 |
数据传输 | 通过LAN接口进行数据传输 | |
选件 |
材料测量(E4991A-002)、晶圆测量(E4991A-010) 温度特性测试(E4991A-007)等 |
扩展应用场景 |
E4991A 不仅仅能测量传统的L、C、R元件,得益于其射频电流-电压(RF-IV)技术(区别于传统的反射测量技术),它在宽阻抗范围内能进行更**的阻抗测量。其高Q精度特别有利于低功耗元器件分析。
它的应用范围相当广泛,包括:
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元器件表征:**测量电感、电容、电阻在高频下的参数,包括等效串联电阻(ESR)、品质因数(Q值)、阻抗(Z)等。
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材料分析:通过选件E4991A-002,可测量介电常数和磁导率等材料特性,适用于磁性材料、陶瓷、PCB板材等。
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晶圆上测量:选件E4991A-010(探针台连接套件)使其能轻松连接射频探头系统,进行晶圆级(On-wafer) 的阻抗测量,对半导体研发至关重要。
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温度特性分析:选件E4991A-007(温度特性测试套件)允许在-55°C 至 +150°C 的温度范围内分析元器件和材料的温度特性,并具有温度漂移补偿功能。