作为与电导率测量互补的方法，X射线荧光分析(XRFA) 可以无损快速准确地确定贵金属的元素成分。 电导率测量非常适合于检测内部有夹杂物内的样品，但它不能提供样品合金中包含的所有元素的**成分。而这正是X射线荧光分析(XRFA) 所擅长的。它根源在于特别**，可靠的，并且*重要的是，使用无损的方法，测量并分析黄金珠宝表面的元素成分和镀层厚度。
测量仪器必须符合精炼厂和贵金属化验师的*高要求。不仅含金量而且所有元素组成的完整测定都是很重要的。 另外有还可以检测有害的元素如镍，镉和铅。该FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 系列产品可以对所有这些元素进行**测量。 除了**测量系统XAN250之外，FISCHER还为客户提供适合的仪器，一个强大的入门级的仪器XAN215，和高精度标准型系统XAN220。所有测量仪器的操作都快速而简单，并且拥有良好的长期稳定性。采用硅漂移探测器的仪器 (XAN 220 和 250) 能达到0.3‰甚至更好的精度，可以与灰吹法想媲美。为确保测量结果的准确性，FISCHER内部按照*严格的校正标准生产**的标准片。 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220用于黄金和珠宝的高精度分析