HP4191A射频阻抗分析仪的介绍

验证系统适用于拍摄(高频)集总参数阻抗测量仪器(即20 KHZ的检测\u2014\u20141 GHZ频段的R、L、C组件的电磁性质和物质财产仪器和测量工具,标准件),规定的无线电频率(rf)还说,高频率(传统)量值溯源的方式集中参数对阻抗、传输过程和测量仪器校准方法. .
首先,计量标准。
1、高频率集总参数阻抗的国家主要计量标准是用于检索和保存20 KHZ - 1000 GHZ频率阻抗值(包括复介电常数的介电材料和复数的软磁性材料渗透率的测量设备和测量工具. .
2、(高频)集总参数阻抗标准的测量,包括:2 1空气介质同轴电缆阻抗基准,通过同轴电缆的阻抗值的大小和材料电磁性能理论计算得到的。
它根据反射系数的校准精度测量原理设计的高频阻抗测量装置。
空气介质同轴微波阻抗是国家基准,今年它验证系统,有利于拍摄(高频),微波阻抗值的统一。
在(1 - 1000)MHz频带,技术指标:。
HP4191A精度的高频阻抗分析仪,通过实证分析,保证高频集总参数阻抗性能计量工作在以下:是。
频率(1 - 1000)MHz。
反射是模拟值| f |:1.000 +(0.003 - 0.007)0 5°相位角度θ:+ 180°±;。
阻抗模值Z | |:1ΩΩ- 10 k +(0.5)%。
电容C:nf + 10 pf - 100(0.2)%;。
电感L:10 nh - 100亩H +(0.2)%。
失:tg三角洲(D)0.001到0.5 + \\ \/ - \\**,高频集总阻抗标准。
3、集总阻抗标准包括:3 1高频阻抗标准50Ω,0,0Ω。
他们由国家基准价值应通过直接比较方法,技术特点如下:。
50Ω:f | | 0.0025或者更少,0Ω:残余阻抗小于2米,0.080ΩpF。0:边缘电容值。
这个标准用来校准高频阻抗分析仪设计是根据电压和电流的原理比高频阻抗测量仪器,如高频LCR表一般(校准仍然需要使用直流和低频阻抗标准\\和损失由50Ω的模拟部分阻抗校正Q值、tgδ值标准设备等)3 2高频和低频阻抗分析仪。
这些都是商业产品精度高的阻抗测量仪器,也用作计量标准设备,精度低的阻抗标准测量工具用于校准。
以下技术指标:。
频率:20 KHZ - 1000 MHZ;。
阻抗Z | |:1ΩΩ- 10 k +(1 - 20%);。
电容C:nf + 10 pf - 100(0.5 -20)% . .
电感L:10 nh - 1.00亩H +(0.5 -20)%。