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日本AEMIC爱米克超高电阻测试仪AE-1644E

  • 产品名称:日本AEMIC爱米克超高电阻测试仪AE-1644E
  • 产品型号:AE-1644E 超高电阻测试仪
  • 产品厂商:AEMIC爱米克
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简单介绍
适合5kΩ~1.5TΩ 贴片、MELF、轴向型超高电阻器的分选机、整修机

日本AEMIC爱米克超高电阻测试仪AE-1644E

的详细介绍

日本AEMIC爱米克超高电阻测试仪AE-1644E

日本AEMIC爱米克超高电阻测试仪AE-1644E


  • 对噪声采取低误差的高速积分方式(可对每个量程进行积分时间设定)
  • 可通过数字设定基准电阻值进行百分比测量(±50.00%)
  • 可使用微调模式
  • 比较器结果可以集电极开路输出、LED显示以及蜂鸣器鸣声
  • 可进行接触检测
  • RS-232C接口标准配备(GP-IB/Centronics输出选购)
测量范围及基本精度(周围温度23℃±5℃)
量程 测量范围 测量**度
测量电压H 测量电压L
100kΩ 5.00kΩ~150.00kΩ 15V ±0.03%±1digit[±0.1% of rdg±1digit] 15V ±0.03%±1digit[±0.1% of rdg±1digit]
1MΩ 50.0kΩ~1500.0kΩ
10MΩ 0.500MΩ~15.000MΩ
100MΩ 5.00MΩ~150.00MΩ 100V ±0.05%±1digit[±0.2% of rdg±1digit] 15V ±0.3%±1digit[±1.2% of rdg±1digit]
1GΩ 50.0MΩ~1500.0MΩ
10GΩ 0.500GΩ~15.000GΩ 100V ±0.2%±1digit[±0.5% of rdg±1digit] 15V ±1.2%±2digit[±1.5% of rdg±1digit]
100GΩ 5.00GΩ~150.00GΩ 200V ±0.5%±2digit[±0.8% of rdg±2digit] 15V ±1.5%±2digit[±2.0% of rdg±2digit]
1TΩ 50.00GΩ~1500.0GΩ 200V ±0.1%±4digit[±1.5% of rdg±4digit] –

※ 上述测量**度的上一行为偏差值测量**度、下一行[ ]内准确度为**值测量**度

显示范围 偏差值模式:±50.00[%]
**值模式:500~15000
测量方式 2端子测量[可接触检测]
采样时间 【空转】约3.3~约4次/秒
【外部启动】FAST:2.5msec.+DELAY+积分時間[1msec.~29msec.]
SLOW:2.5msec.+DELAY+积分時間[电源频率数1 SCALE×
(1~9)]
【微调模式】約14.5msec.+DELAY+积分時間+[150msec.(只有判定HI時)]
比较器设定范围 偏差值测量:上下限均为0~±50%
**值测量:上下限均为 500~15000
测量延迟时间 0msec.~99msec.(可各量程设定)
接触检测时间 【测量前检测】测量时间+11msec.
【测量后检测】测量时间+6msec.
比较器判定結果显示 LO/GO/HI、LED显示及蜂鸣器
控制讯号 测量开始讯号:”L”[0V或 短路]→”H”[DC12V或 Open ]方式启动
保持讯号:”H”[DC12V或 Open ]:Free run、 ”L”[0V或 短路 ]:Hold
判定结果讯号[LO/GO/HI]:集电极开路输出
接触错误[CE]:集电极开路输出”ON”
测量结束讯号[EOC]:集电极开路输出”ON”[1msec.~99msec.可变换]
周围使用环境 温度:+5℃~+40℃、 湿度:85%以下
所需电源 AC85V~265V、50~60Hz、约20VA
外形尺寸 333(W)×99(H)×300(D)mm(不含底部橡胶等突起部分)
重量 约2.5kg
选购 ・GP-IB
・打印机传输线
・短路端子器(零欧姆标准电阻器)


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