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3.16日到货,日本SENA手持式超高照度卤素检查灯185LE-AL

日期:2026-10-13 11:18
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摘要:日本SENA手持式超高照度卤素检查灯185LE-AL
185LE-AL 是日本 SENA(S-VANS / 豊川) 的手持式超高照度卤素检查灯,专为晶圆、玻璃、面板等精密表面缺陷目视检测设计。

一、核心参数(185LE-AL)

  • 品牌:日本 SENA(S-VANS / 豊川)
  • 类型:手持式超高照度卤素检查灯(185LE 为台式,AL 为手持)
  • 光源:17V/185W 直流卤素灯(直流点灯,无频闪)
  • *大照度:400,000 Lux+(照射距离 310mm、光斑直径 55mm 时)
  • 照度调节:连续可调(*大照度的 20%~100%)
  • 冷却:强制风冷(灯箱内置风扇)
  • 电源:AC 95~260V,50/60Hz(宽电压,全球通用)
  • 整机功率:250W
  • 工作温度:0~40℃
  • 尺寸 / 重量:
    • 灯头:136×112×150mm,2.3kg
    • 电源:229×90×250mm,3.6kg
  • 寿命:卤素灯平均寿命约 20,000 小时

二、型号含义(185LE-AL)

  • 185:光源功率 185W
  • LE:Light Emitting(发光单元)
  • -AL:Handheld(手持) 版本(区别于台式 185LE)

三、核心特点

  1. 超高高照度:40 万 Lux 级,可清晰捕捉微米级划痕、颗粒、指纹、污渍。
  2. 直流无频闪:直流点灯,光线稳定,长时间目视不易疲劳。
  3. 连续调光:从 20% 到满功率连续调节,适配不同检测场景。
  4. 强制风冷 + 过热保护:内置风扇 + 温度保险丝,保障长时间**运行。
  5. 宽电压适配:AC 95~260V,无需变压器,全球可用。
  6. 手持便携:AL 版为手持设计,灵活检测大尺寸或复杂工件。

四、典型应用

  • 半导体 / 晶圆:硅片、晶圆表面颗粒、划痕、脏污检测
  • 显示面板:TFT-LCD、OLED、CF 彩色滤光片、触摸屏表面缺陷检查
  • 光学玻璃:镜头、棱镜、滤光片、玻璃基板表面瑕疵检测
  • 精密制造:金属 / 陶瓷 / 塑料精密零件表面质量检测
3.16日到货,日本SENA手持式超高照度卤素检查灯185LE-AL
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