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技术文章

全自动低温冻融试验装置技术参数及用途

全自动低温冻融试验装置技术参数及用途
专利号:ZL00258651.7
型  号:CLD
*低温度:≤-20℃
测温精度:±0.2℃(-6℃~5℃)
试验砖量:600×600(㎜)
10
块或等质量约80㎏瓷砖
外形尺寸:1800×750×1300(㎜)
符合标准:GB/T 3810.12-1999
ISO 10545-12:1995
用途:本试验装置不需任何调整和监视可自动完成100次陶瓷砖的冻融循环实验,亦可用于各种建材的自动冻融试验。该装置已经获国家**保护
我们的同类产品:数显白度仪,陶瓷砖综合测定仪,陶瓷砖吸水率真空装置,
数显陶瓷砖抗折试验机JWG-60镜向光泽度计自动漆膜干燥时间试验仪 QFS耐洗刷测定仪
QXD刮板细度计    QFZ漆膜附着力试验仪、QFD电动漆膜附着力试验仪
全自动低温冻融试验装置主要技术性能参   QHQ漆膜铅笔法硬度计
专利号:ZL00258651.7
型  号:CLD
*低温度:≤-20℃
测温精度:±0.2℃(-6℃~5℃)
试验砖量:600×600(㎜)
10
块或等质量约80㎏瓷砖
外形尺寸:1800×750×1300(㎜)
符合标准:GB/T 3810.12-1999
ISO 10545-12:1995
用途:本试验装置不需任何调整和监视可自动完成100次陶瓷砖的冻融循环实验,亦可用于各种建材的自动冻融试验。该装置已经获国家**保护
我们的同类产品:数显白度仪,陶瓷砖综合测定仪,陶瓷砖吸水率真空装置,
数显陶瓷砖抗折试验机JWG-60镜向光泽度计自动漆膜干燥时间试验仪 QFS耐洗刷测定仪
QXD刮板细度计    QFZ漆膜附着力试验仪、QFD电动漆膜附着力试验仪
全自动低温冻融试验装置主要技术性能参   QHQ漆膜铅笔法硬度计
 
 
 
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