一、参考试块的用途 1.测定仪器和探头的性能 2.在探伤过程中，调整和控制综合灵敏度不发生变化。 3.复查和控制以前使用仪器的标准（工作状态）。 4.区别材料的性质

  参考试块是生产和使用仪器时，检查和控制其质量及工作状态的重要工具。现在通用的是I.I.W(或CSK-3)型参考试块。参考试块可以测定仪器的灵敏度、分辨力、盲区、扫描线线性、放大器线性、斜探头标志线、折射角度、方向性、斜探头在荧光屏上的真零点（即波束离开斜探头有机玻璃时的零点）等。而灵敏度、盲区、分辨力取决于仪器及探头的性能。

  二、时间基线（扫描线）线性的测定  用直探头（纵波）测定，发射波调整在荧光屏的零点上。例如时间基线为0~100毫米时，将探头放在试块的A位置，以25毫米的多次反射波进行校正。微调扫描速度，使**次反射波出现在25处，如果扫描线性好，**、三、四次应分别与50、75、100刻度重合。否则多次反射波不成比例的出现在荧光屏上。

  三、放大器线性的测定  如下图所示，将超声波探伤仪探头放在F位置的有机玻璃块上探测，有机玻璃的厚度相当于50毫米钢的厚度。测定时，灵敏度的控制由*小开至*大，高穿透力仪器有6~10个反射波，低穿透力的仪器只有2~4个反射波。

  相对灵敏度测定，如下图，将超声波探伤仪探头放在C位置。灵敏度控制*初放在*小位置，移动探头，直到荧光屏上出现1.5毫米洞反射回的波为止。在给定的灵敏度控制位置下，反射的高度就是相对灵敏度。

  五、盲区测定 如下图所示，将探头放在D位置上，可测的盲区小于10毫米。将探头放在E位置上，可测的盲区小于5毫米。

  六、分辨力的测定 下图探头在G位置，可测定分辨力。探头移动，使之在85、91和100刻度处获得三个回波。如果三个波是分离的，则分辨力好。否则，分辨力差。

  七、斜探头波束零点线的校正 斜探头有机玻璃楔块上的零点线和压电晶片的中心线重合。斜探头在H位置移动，直到从100毫米弧度处获得*大的反射波为止，如斜探头零点线与试块上0点重合，则斜探头的零点线正确。否则，需移动探头的晶片，直至重合为止。此时斜探头的零点线即为声波主线的入射点。

  八、折射角的测定 如下图示，探头在J位置，移动超声波探伤仪探头，直到获得从有机玻璃圆柱块处反射回的波幅*高为止，此时探头零点线在试块上所指的角度即为其折射角度（入射点至有机玻璃圆柱块中心的连线与零点线的夹角），试块上刻有几个固定的折射角。

  九、斜探头真零点的校正 斜探头声波经过有机玻璃延迟一段时间后，射入工件，这一段时间需在荧光屏零点刻度上予以校正。如下图示，探头在K处移动，直到获得从100毫米弧度反射回的波幅*高为止，然后调整扫描线的“水平位移”及“细调”，使两个反射波出现在40°及90°处为止。刻度40°的波系从100毫米处直接反射回探头的波（路径200毫米），而90°处的波系由100毫米处及25毫米槽处往复反射回至探头的波（路径450毫米）。此时，荧光屏的零点刻度即为声波离开斜探头有机玻璃楔块时的零点。