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电子及半导体行业产品亚微米尺寸的检验——NanoFocus共聚焦显微镜


无差错的产品在亚微米尺寸的检验
       成本效益和快速测量系统从NanoFocus盖在现代电子产品故障分析与测量任务的整个频谱。新的产品和生产过程可以发展的更快和更容易的高分辨率测量系统的帮助。纳米焦点技术有助于更紧凑的电子元件的发展。
       在今天的电子产品生产中,小型化的趋势提出了一个不断的挑战。其目的是降低成本和提供无差错的产品。在这里,为每个元件的几何公差的观察如共面性很重要,分离和翘曲,以及粗糙度参数和体积。成本效益和快速测量系统从NanoFocus共聚焦显微镜在现代电子产品故障分析与测量任务的整个频谱。

引线框架


       在集成电路封装中使用的引线框架,以满足严格的要求。所有的个体接触都必须位于一个单一的平面上,即它们必须是共面的,并有一个定义的表面粗糙度。组件也必须表明无翘曲。表面和引线框架的基地面积快速捕获和使用仪器**。如共面性参数,分离的接触,底板的变形和粗糙度转移到协议分析。

       根据基材,通过蚀刻在电路板生产中的导体轨道。在继续安装过程之前,必须先测量衬底材料和导体的轨道。的µ扫描技术可用于捕获基板翘曲,以及导线几何-所有在一个单一的测量过程。在电路板和导体轨道上的粗糙度也可以检查独立的材料在生产相关的质量保证。与µ软自动化软件结果的评估是由NanoFocus根据客户要求调整。


微凸点

       纳米焦点射线的µsprint技术,世界上*快的共焦传感器,特别适合于非常小的间距测量微凸点。由于该传感器的高分辨率和动态,高度和直径,共平面性,和其他各种参数可以在几秒钟之内测量晶圆以及陶瓷或塑料板。检查可能的焊膏印刷后,回流过程后,或经过压印。此外,对电解沉积碰撞检查,所谓的铜柱子,是可能的。

微孔

       在多层电路板激光钻孔的微孔,服务于各层之间的接触。在生产故障或填充的微孔,导致*终产品的失败。一个µsurf系列共聚焦显微镜电路板的非接触检测捕获通过几何(直径、深度)。µsurf技术为用户提供了一个测量系统,小微也可以捕捉到没有问题。

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