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X荧光光谱仪器用途
 
    X荧光光谱仪器是通过一种波长较短的电磁辐射（X射线）。当用X射线光管发出高能电子照射样品时，入射电子被样品中的电子减速，会产生宽带连续X射线谱。如果入射光束为X射线，样品中的元素内层电子受其激发，可产生特征X射线，一般称为X荧光射线（XRF）.通过SDD探测器收集到分析样品中不同元素产生的荧光X射线波长和强度，可获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性和定量分析的目的。
    X荧光光谱仪器用途：
    1、钢铁行业：对生铁、各类铸铁、各类合金钢及炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石除碳（C）以外的各种元素成份分析。
    2、 耐火材料及水泥行业的分析：各类耐火材料及水泥生料样品的成份分析。
    3、有色行业：对铝合金、不锈钢、铜合金样品及铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析。
    4、质检部门： ROSH 指令中的Pb，Cd ，Cr，Hg，Br 及氯素各种等成份分析。
    5、 镀层测厚：可对金属材料及非金属材料上的所有电镀层的厚度进行准确无损测量。
    X荧光光谱仪器仪器特点：
    1、采用DPP 数字脉冲成型技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
    2、采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，Be(铍)窗厚50μm，靶材Ag(银靶)，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率；
    3、 采用世界上*先进的电致冷SDD 半导体探测器，分辨率高，达到130ev，无需液氮制冷，使用方便，可以一次性完成对多种元素的探测。
     
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