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技术文章

影响X荧光光谱仪器测试结果的因素有：

1、工作曲线选错或工作曲线内选用的标样缺少。

2、未进行初始化，峰谱有飘移。

3、样品的不均一性或物理形态也会对样品的含量造成不确定性。比如块状样或粉未状样品。不同地区不同的矿物的不同矿物效应也会造成不确定性。

4、样品量过小，而测试时间比较短的情况下。

5、X荧光光谱仪器表层不平，如每次受到激发的效果也不是很好，不是很稳定。这是由于虽然同测一个点，但是受到激发的程度会不同，有变化。

6、外部有强磁场、强电流、谐波干扰或者电流不稳，温度高湿度大的情况下都有可能测试不准。

7、元素与元素之间的荧光干扰。

通过元素周期表上特征X射线能量的观看，我们可以知道有一些元素的能量很相近，会有相互干扰的情况出现。几种常见的元素干扰如下：

A．Pb与AS之间的相互干扰。Pb的La与AS的Ka峰都几乎一样，所以如果样品又有Pb和As的话，则这二个元素会有干扰严重影响到测试结果。这样就要选择不同的分析线进行分析。

B．W、Au、Zn、As的相互干扰。由于在地矿行业对金的要求品位很低，2g/t即可为金矿，所以如果矿里含有Zn或As的会严重干扰到Au的测试结果。而一般Au矿里都会有伴生这些元素，所以有时候测试Au会很麻烦。造成的误差也会很大。所以目前X荧光对测Au元素还没有一个很好的解决方案。

C．Fe对Co的干扰，一般矿产里铁含量都有很高，而Co的品位都会很低，Fe的Kb峰刚好就在CoKa峰上面，这样就造成了对Co的干扰。所以有时候对低Co含量会测不出结果。

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