SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪
SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪是一款独具匠心的光纤线路寻障分析产品,为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式,其稳定性和惊人的性价比在全球广受瞩目。其与传统 OTDR 相比,其尺寸更加小巧,操作更为简洁,独特的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷;功能齐全,**满足单模(1310nm/1550nm)、多模(850/1300nm)等光纤测试应用需求,支持平均/实时双测量模式;其多功能背包
亦充分考虑到了野外作业和实验室测试的操作方便,可充分满足不同用户和各种现场测试需求,使其成为
目前发展迅速的农话网、城域网和 FTTx 光纤施工、认证、例检、抢修和维护中的优选工具。
开机启动时间小于5 秒
从开启电源到进入接口并启动测试只需要不到 5 秒的时间,用户无需等待。
OTDR TraceManager 仿真软件
基于Windows PC 机的软件可以在 PC 机上对测试迹线进行分析/编辑,也可根据使用者需求生成不同形式的测试报告。
产品特点:
可浏览和分析所测试迹线档
Bellcore 档存储格式
显示迹线,光纤事件,分析信息,测试参数等数据
单页单迹线或单页多迹线可选打印模式批量修改和批量打印功能
波形差异对比功能在仿真模式中,可在同一窗口同时打开多个波形,波形间的差异在同一窗口显示出来,可以更容易地比较诸如光纤老化原因所造成的参数改变。
双方向分析测试功能
**光纤测试应用:
单模:1310/1550nm,*大 45dB
多模:850/1300nm,18/22dB
高效人机界面,掌上型轻量化设计(仅重 1kg)
独特的热键设计:按键操作集成热键功能,快捷定位及分析事件点
USB/RS232 数据接口
1000 条迹线存储
优化的供电设计:内置 NiMH 充电电池一次充电可支持 8 小时测量
防尘、防震设计
技术指标:
型号(1)
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波长 (±20nm)
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动态范围(2)
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事件盲区(m)
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衰减盲区(m)
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SUN-OT5000-M
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850/1300
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18/22
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7(6)
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20(6)
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SUN-OT5000-S1
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1310/1550
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24/24
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10(5)
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25(5)
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SUN-OT5000-S2
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1310/1550
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32/32
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2.5
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14
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SUN-OT5000-S3
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1310/1550
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38/37
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2.5
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14
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SUN-OT5000-S4
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1310/1550
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45/43
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2.5
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14
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测试范围 (KM) (3)
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0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10 @ 850nm;
0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80 @ 1300nm
0.3, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80, 120, 160, 240 @ 其他
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脉宽(4)
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12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs@850nm;
12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs, 2.5µs@1300nm
5ns, 10ns, 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 300ns, 1µs, 2.5µs, 10µs, 20µs@其
他
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测量时间
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15s, 30s, 1min, 2min, 3min
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测距精度
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±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距)
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衰减测量精度(dB/ dB)
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±0.05
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反射测量精度(dB)
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±4
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资料存储
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SUN-OT5000-S3,S4 型:1000 条测试曲线;SUN-OT5000-M,S1型:300 条测试曲线
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通信接口
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USB/RS232
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光界面
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FC/PC (可互换 SC, ST)
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供电方式
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双路供电:NiMH 充电电池/ AC 适配器
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电池工作时间
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一次充电后:连续操作≥8 小时; 待机时间≥20 小时
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工作温度(°C)
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0 ~ 50
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保存温度(°C)
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-20 ~ 70
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相对湿度
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0~95% (无结露)
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重 量(Kg)
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1
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体积 (长×宽×厚)(mm)
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220×110×70
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注释:
技术指标描述了用典型 PC 型连接器测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度;
动态范围是在*大脉冲宽度、平均时间3 分钟条件下测得;
距离范围中 160Km檔和 240Km档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效;120Km 档只对本仪表的 SUN-OT5000-M,S1 型有效;
脉宽中 5ns、10ns、300ns、10us 檔和 20us 档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效;12ns 和 275ns 档只对本仪表的 SUN-OT5000-M, S1型有效;
盲区测量条件:对 SUN-OT5000-M, S1型,反射事件在 2.1Km处,反射强度<-35dB,用 30ns 脉宽进行测量;对 SUN-OT5000-S2,S3,S4,型,反射事件在 0.6Km处,反射强度<-45dB,事件盲区用 10ns 脉宽进行测量,衰减盲区用 30ns 脉宽进行测量;
盲区测量条件:反射事件在 1Km处,反射强度<-32dB,用 12ns 脉宽进行测量。
标准配置:
主机、FC/PC 激光连接器、充电电池、TraceManager 软件光盘、数据传输线(RS232/USB)、AC 适配器、便携软包、保修卡、校准证书、快速操作手册