跌落试验机可靠性跌落试验
测试环境：室温（20-25℃）
l 测试目的：暴露因高低温冲击引诱的样品缺陷
l 参考标准：GB/T2423.8-1995
ll 测试检查项目：
1）电性能参数测试：对各参数进行测试。
2）功能测试：拨打电话，显示、**、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、MicRo SD 卡以及其它未描述到的功能。
3）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。
4）外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。
5）内存时钟：样机中存中存入5 个电话和5 条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
l 测试方法：
1）样机中存中存入5 个电话和5 条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
2）将样机设置为开机插卡状态，对手机进行6 个面四个角1.2m 的自由跌落实验，每个面的跌落次
数为2 次，每个面跌落面都要对手机的外观、结构、内存、时间和功能进行检查。
3）跌落顺序为：
直板及翻盖手机：左侧面、背面、右侧面、底面、顶面、正面、左上角、右上角、左下角、左下角。
滑盖手机：底面、顶面、背面、正面、左侧面、右侧面、左上角、右上角、左下角、左下角。
4）跌落过程中，对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置，一半样品闭合为初始状态；对于滑盖手机应将一半样品合上滑盖，一半样品将滑盖打开到上限位置
5若样品数量为奇数，则多的一台打开翻盖或滑开滑盖。
6）测试条件：跌落高度1.2m，20mm 厚的大理石地板。（对于PDA 手机，根据所属公司质量部门的建议可调整为跌落高度为1.0m）
l 测试标准：手机外观、结构、功能及内存时间无异常。
1）参数测试：与综测仪连接进行参数测试，电性能符合测试要求。
2）功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、LED、扬声器、受话器、回声、按键、拍照、充电功能正常以及其它未描述到的功能均无异常。
3）结构检查：装饰件、logo 及cover 等无脱落，壳体卡钩无脱出、断裂；LCD 无破裂；天线无脱出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂、晃动无异响，Lens 无破裂、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象。
4）外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹、破损、冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象。
5）样品内存：时钟无异常（内存无丢失、时钟无混乱、复位、超前、滞后等）
6）备注：电池/电池盖脱落、关机及掉卡等、如重启无异常，不记录为有问题。