测试目的：验证样机冷热冲击下的材料性能，结构配合、装配、制成工艺等可靠性
测试标准：GB/T 242423.22-2002; IEC 60068-2-14:1984 电子产品通过冷热冲击试验箱测试的项目：
1）功能测试：拨打电话、显示、**、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、MINI SD 卡以及其它未描述到的功能。
2）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。
3）外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。
4）内存时钟：内存中存入5 个电话和5 条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
测试方法：
1）样机中预存入5 个电话和5 条短信息，并将手机时钟设置为当前日期时间。
2）手机中装入充满电的电池，不插测试卡，设置为关机状态放进高低温冲击箱内。
3）样机置于70℃高温箱内持续60 分钟后，在15 钞内迅速移入-40℃低温冲击箱并持续60 分钟后，再在15 秒内迅速回到高温箱。此为一个循环（一个循环用时2 个小时），共循环24 次。（测试曲线如图）
4）实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，在室温（20-25℃）恢复2 小时后进行外观结构、功能及内存检查。
5）对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应一半样品滑开到上限位置。