| 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-T-432.1，T-532，EN1714-1997-6.3 【2】相关技术内容:（1）ASME规定：探头标称频率应为1~5MHz，如果产品材料晶粒结构等需要，可采用其它频率以保证有足够的穿透力和更好的分辨力，可以使用带接触楔块的探头以有利于超声耦合。 （2）EN1714规定：探头频率应为2~5MHz，但根据需要也可使用其它频率；用横波要求超声波束从底面反射进行检测时，应保证底面反射的声束角度不小于35°，*好不大于70°；使用2个以上探头角度时，声束垂直入射的角度差应≥10°。 【3】简要评述：对探头的通用要求，各标准规定的内容不同，总的来说，JB4730较**。对探头晶片尺寸，ASME在相关章节或B篇的应用标准中有规定。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容3.2.2.3 超声探伤仪和探头的系统性能 3.2.2.3.1 在达到所探工件的*大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。 3.2.2.3.2 仪器和探头的组合频率与公称频率误差不得大于±10%。 3.2.2.3.3 仪器和直探头组合的始脉冲宽度（在基准灵敏度下）：对于频率为5MHz的探头，宽度不大于10mm；对于频率为2.5MHz的探头，宽度不大于15mm。 3.2.2.3.4 直探头的远场分辨力应不小于30dB，斜探头的远场分辨力应不小于6dB。 3.2.2.3.5 仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】 对应条款：没有。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容3.3 超声检测一般方法 3.3.1 检测准备 3.3.1.1 承压设备的制造安装和在用检验中，检测时机及抽检率的选择等应按法规、产品标准及有关技术文件的要求和原则进行。 3.3.1.2 检测面的确定，应保证工件被检部分均能得到充分检查。 3.3.1.3 焊缝的表面质量应经外观检测合格。所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以**，其表面粗糙度应符合检测要求。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的处理。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-T-471.1，T-471.5 【2】相关技术内容:ASME规定：（1）通过探头以扫查整个检验体积。（2）当母材或焊缝表面影响检验时，应按要求对母材或焊缝予以处理使检验能够进行。 【3】简要评述：关于检测时机和抽检率，ASME在第V卷中没有涉及，在其它相关制造卷中有规定。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容3.3.2 扫查覆盖率 为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-T-471.1 【2】相关技术内容:ASME规定：在平行扫查方向上，每个探头的扫查路径应重叠，其范围至少为换能器（压电晶体）垂直于扫查方向尺寸的10%。 【3】简要评述：ASME的规定比JB4730的要求低，但ASME的叙述较严密，指明重叠应是垂直于扫查方向晶片尺寸的10%。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容3.3.3 探头的移动速度 探头的扫查速度不应超过150mm/s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-T-471.3 【2】相关技术内容:ASME规定：a)探头扫查速度应不超过150mm/秒，但满足下列（b）、（c）要求时不受此限。b)超声仪器脉冲重复频率满足：探头以*大速度扫查时，在移动平行于扫查方向晶片尺寸一半的时间内，至少触发探头6次。c)在多个反射体上作动态校准时，动态校准在静态校准的±2dB之内并且脉冲重叠频率满足T-471.2的要求（见下条对比内容）。 【3】简要评述：ASME对探头移动速度的规定与JB4730相同。另外，ASME还对仪器的重复频率和动态校准作出了详细的规定，更具操作性。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容3.3.4 扫查灵敏度 扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。 主要修改内容： ① 扫查灵敏度国外标准的对应条款及技术内容 1994版：扫查灵敏度至少应比基准灵敏度高6dB。 2005版：扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。 解释：关于灵敏度，1994版有扫查灵敏度、基准灵敏度和检测灵敏度等，检测灵敏度有时指扫查灵敏度，有时指基准灵敏度，含义不明确。2005版对此作了修改，基本上使用扫查灵敏度和基准灵敏度这两个术语，并对扫查灵敏度和基准灵敏度作了定义，即基准灵敏度一般指的是记录灵敏度，它通常用于缺陷的定量和等级评定。扫查灵敏度则主要指实际检测灵敏度。 在JB4730中，扫查灵敏度有时等于基准灵敏度，有时高于基准灵敏度（如高6dB）。因此对该条文作了修改。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-T-471.4.1，T-471.4.2 【2】相关技术内容:ASME规定：a)距离波幅技术：扫查灵敏度应高于参考水平至少6dB。B)非距离波幅技术：用于扫查的增益水平应适合于被检验的结构并且以*大速度扫查时能探测到校验反射体。 【3】简要评述：扫查时，仪器显示的信号幅度要比静态时低，为了不漏检缺陷，扫查灵敏度要高于基准灵敏度（参考水平），ASME与JB4730的规定基本相同。 JB/T 4730.3-2005标准条款及技术内容3.3.5 耦合剂 应采用透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂，如机油、浆糊、甘油和水等。 国外标准的对应条款及技术内容，技术差异的简要评述 【1】对应条款：ASME2004-T-433，T-533 【2】相关技术内容:ASME规定：耦合剂不应对工件有损伤，用于镍基合金的耦合剂硫含量不应大于250ppm，用于奥氏体不锈钢、钛合金的耦合剂卤素（氯加氟）含量不大于250ppm。 【3】简要评述：与渗透剂一样，ASME规定了对耦合剂杂质含量的控制，目的在于防止硫、氯、氟等有害物质对工件的腐蚀。这一规定是2004版新增加的，符合世界标准的发展趋势。 |