电子产品可靠性试验

 
       电子产品可靠性试验--为评价分析电子产品的可靠性而进行的试验，广义说，包括各种环境条件下的模拟试验和现场试验。按试验项目可分为环境试验、寿命试验和特殊试验；按试验目的可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；按试验性质可分为破坏性试验和非破坏性试验。
       
        通过可靠性试验，可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量，为使用、生产和设计提供有用的数据；也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。通过失效分析、质量控制等一系列反馈措施，可使产品存在的问题逐步解决，提高产品可靠性。
    
       电子产品可靠性试验评价和分析产品寿命特征的试验称为寿命试验。对于大部分电子产品，寿命是*主要的一个可靠性特征量。因此，可靠性试验往往指的就是寿命试验。寿命试验可分为非工作状态的存储寿命试验和工作状态的工作寿命试验两类。为了缩短试验周期、减少样品数量和试验费用，常常采用加速寿命试验。在不改变产品的失效机理和增添新的失效因子的前提下，提高试验应力（相对于工作状态的实际应力或产品的额定承受应力），以加速产品的失效过程。根据试验中应力施加方式的不同，又可分为：①在试验过程中应力保持不变的恒定应力加速寿命试验；②试验过程中应力逐级步进式增加的步进应力加速寿命试验；③试验过程中应力连续增加的序进应力加速寿命试验。

       电子产品可靠性试验由于寿命试验费时较多，通常不待受试样品全部失效就要结束，即大部分寿命试验都是截尾试验。根据试验截尾方式(固定试验时间或固定试验中失效样品数)和受试样品失效后有无替换，寿命试验可分为四种：①无替换定时截尾试验；②有替换定时截尾试验；③无替换定数截尾试验；④有替换定数截尾试验。在电子产品寿命试验中，*常用的寿命分布为指数分布、威布尔分布和对数正态分布。*常用的寿命试验数据统计分析方法有概率纸图解法、*大似然估计法、*佳线性无偏估计法、*佳线性不变估计法等。

       电子产品可靠性试验所谓筛选，就是设法除去在材料、元件、器件、设备、系统等方面潜在的**因素和缺陷，而把优良的产品挑选出来。采用外加应力或其他手段将成品中潜在的早期失效产品剔除的试验称为可靠性筛选。外加应力可以是热应力、电应力、机械应力或者几种应力的组合，筛选应力大小和作用时间的选取原则是：①针对产品的主要失效机理；②所用的应力对于良好的产品应无破坏作用，而对于有缺陷的产品应能使缺陷很快暴露；③根据用途、成本、产品批量大小和试验设备等条件统一考虑，力求*佳的经济效果；④充分调查，收集数据，掌握产品的失效分布和失效机理，才能确定合理的筛选项目。*常见的筛选方法有:①目检（显微镜镜检、X射线照相、红外扫描等）；②电性能测试；③密封检漏；④环境应力筛选（恒定加速、机械振动、冲击、温度循环、热冲击等）；⑤寿命筛选（高温储存、功率老化、高温反偏等）。