近年来，微电子业由于需要高倍率平面显微技术支持芯片生产，因此，金相显微镜被引入该领域推广使用并正在不断的改进以满足行业的特殊需要。倒置式金相显微镜，由于试样观察面向下与工作台表面重合，观察物镜位于工作台的下面，向上观察，这种观察形式不受试样高度的限制，使用方便，仪器结构紧凑，外型美观大方，倒置金相显微镜OLYMPUS GX51底座支承面积较大，重心较低，**平稳可靠，目镜与支承面呈45℃倾斜，观察舒适。
倒置金相显微镜OLYMPUS GX51利用光学平面成像的方法，对各种金属和合金的组织结构进行鉴别和分析，是金属物理研究金相的重要工具，可广泛地应用于工厂或实验室进行铸件质量、原材料检验，或工艺处理后材料金相组织的研究分析工作，从而提供直观的分析结果，是矿山、冶金、制造、机械加工业中铸造、冶炼、热处理质量鉴定分析的关键设备。