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CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途
日期：2026-11-05 12:21
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摘要：
CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途
两个试块的主要区别在于：CSK—IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。使用要点如下：
1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围；
2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围；
3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点；
4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力；
5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力；
6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力；
7)利用中50曲面和巾1．5横孔测定斜探头的K值；
8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1：1扫描速度，配合R100作零位校正；
9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。
2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围；
3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点；
4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力；
5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力；
6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力；
7)利用中50曲面和巾1．5横孔测定斜探头的K值；
8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1：1扫描速度，配合R100作零位校正；
9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。
CSK—IA试块