軟接觸鏡片的基線和厚度測量
軟接觸鏡片的基線和厚度測量
應用范圍：測量隱形眼鏡的基準曲線和厚度
技術背景：
在20世紀70年代，我們率先開發出了檢測隱形眼鏡的超聲波測厚儀，采用超聲波測厚儀可以測量用于基準曲線計算的隱形眼鏡的矢量高度，以及鏡片的厚度，不會出現采用其他技術會使鏡頭產生物理失真的錯誤，超聲波測量速度快，可持續進行，性能可靠，而且不用操作人員進行任何解釋說明，**的38DLP型測厚儀加載了特殊的軟件，結合基準曲線的計算，可以同時測量矢量高度和厚度。
推薦使用設備：
測厚儀：38DLP型
探頭：M316-SU F=0.75（20MHZ，0.125in元直徑）
夾具：B-200型隱形眼鏡夾具或同等設備
注意：也可以使用35型或35DL型矢測厚儀來測量矢量高度或鏡片厚度，但這些儀器一次只能進行一種類型的測量，并且不會自動計算基準曲線。
