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X射线荧光光谱仪XRF通用术语表

上一篇文章介绍了关于X射线荧光光谱仪需要哪些辅助设备?本文介绍一下关于X射线荧光光谱仪通用术语表。请阅读下文

一、什么是XRF?

    XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 

    人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。
 
    一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射
出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统
所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光. 

    利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为11号元素 (Na)到92号元素(U)。

二、X射线荧光光谱仪的原理:

      X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:nm)描述。
 
  X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,释放出来,电子的逐放会导致该电子壳层出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光(XRF)。

 

X射线的波长

  元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
 
  λ=K(Z− s) −2
 
  式中K和S是常数。

 

X射线的能量

  而根据量子理论,X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:
 
  E=hν=h C/λ
 
  式中,E为X射线光子的能量,单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。
 

  因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。

三、X射线荧光光谱仪XRF通用术语表

 

双靶

 

带有两个靶的端窗X射线管称为双靶X射线管。 本系统中,可选择Rh/Cr 或 Rh/W 双靶X射线管。当设置了测量元素的靶材时,在测量之前,仪器会自动切换到设置的靶材。  

 

激发条件

 

由X射线管产生初级X射线并使其激发样品的光学条件称为激发条件。激发条件包括靶材、管电压、管电流和初级束滤光片。

 

EZ 扫描

 

EZ 扫描是进行SQX分析时的一种分析类型,也是SQX分析的简化方式。虽然在测量和控制方面有一些限制,但不必准备分析方法即可进行SQX分析。

 

固定角度分析

 

将晶体和探测器固定在测量组分的谱峰或背景角度位置,并在各角度位置按一定时间计数,以测量组分谱线强度的方法称为固定角度分析。

 

定时分析

 

在固定的时间,自动进行一系列分析的功能称为定时分析。 定时分析功能可用于PHA调节和漂移校正等定期分析中。 定时分析要求分析程序必须处于开启状态。当分析程序正在分析一系列样品ID时,所设置的定时分析样品ID会在指定的时间优先分析,即在到达指定时间时,完成当前正在分析的样品ID后,立即分析所设置的定时分析样品ID。

 

关于X射线荧光光谱仪XRF通用术语表全文请点击http://www.instrument17.com/instrument17_FileInfo_560025.html

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