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产品资料

RFID标签综测仪

 RFID标签综测仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称: RFID标签综测仪
  • 产品型号:DQSNT2000
  • 产品展商:德器
  • 折扣价格:0.00 元
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
集成了标签性能测试的全部功能,可分别在13.56MHz、433MHz、860-960MHz、2.5GHz等多个频段内工作并提供全套测试方案。综合的测试功能使得DQSNT20可以用在生产线,研发中心,质检部门等。作为RFID 的专用测试仪器,DQSNT20可以达到通用仪器所无法完成的快速,高精度和多种参数的测量功能。可简便快捷的完成标签的测试工作,因此可大大提高开发效率,缩短开发时间,改善产品质量。
产品描述

用高速PCI总线,是传统GPIB总线仪表速度的100倍以上。它还拥有列表模式和快速切换模式,使PXI模块的设置时间缩短至150us。

用高速PCI总线,是传统GPIB总线仪表速度的100倍以上。它还拥有列表模式和快速切换模式,使PXI模块的设置时间缩短至150us。

用高速PCI总线,是传统GPIB总线仪表速度的100倍以上。它还拥有列表模式和快速切换模式,使PXI模块的设置时间缩短至150us。

DQSNT2000覆盖频率范围250 kHz至2.7 GHz,带宽高达20MHz, 并具有的较低底噪 (-110dBm)。


DQSNT2000在指标测量方面具有很多优势:

 采用业内*精准的超谱技术,可以使得旁瓣抑制达到-80dB

 使用实时频谱显微镜,捕获频谱瞬时变化

 能够提供23种脉冲测量参数

 将可进行全自动2D辐射场型的测试

 可以模拟高斯噪声与白噪声两类噪声环境,在进行标签测试时,测试者可以人为的加入噪声来测试标签的抗干扰能力

 对RFID工作频率范围进行扫描,可以得知再次频段内所有辐射频率的相关信息

 可以给出了不同频段下,不同发射功率,不同发射角度下的*大通讯距离的理论值。


DQSNT2000支持多种RFID协议制式,具体包括:

 ISO 14443

 ISO 15693

 ISO18092 NFC

 I Code 1

 ISO 18000-4

 ISO-18000-6

 ISO 18000-7

DQSNT2000配套有70dB隔离度的微波暗箱, 360度平面转动的待测物转台系统,13.56MHz,860-960MHz的RFID测量天线

覆盖频率范围250 kHz至2.7 GHz,带宽高达20MHz, 并具有的较低底噪 (-110dBm)。



DQSNT2000在指标测量方面具有很多优势:

 采用业内*精准的超谱技术,可以使得旁瓣抑制达到-80dB

 使用实时频谱显微镜,捕获频谱瞬时变化

 能够提供23种脉冲测量参数

 将可进行全自动2D辐射场型的测试

 可以模拟高斯噪声与白噪声两类噪声环境,在进行标签测试时,测试者可以人为的加入噪声来测试标签的抗干扰能力

 对RFID工作频率范围进行扫描,可以得知再次频段内所有辐射频率的相关信息

 可以给出了不同频段下,不同发射功率,不同发射角度下的*大通讯距离的理论值。


DQSNT2000支持多种RFID协议制式,具体包括:

 ISO 14443

 ISO 15693

 ISO18092 NFC

 I Code 1

 ISO 18000-4

 ISO-18000-6

 ISO 18000-7

DQSNT2000配套有70dB隔离度的微波暗箱, 360度平面转动的待测物转台系统,13.56MHz,860-960MHz的RFID测量天线

覆盖频率范围250 kHz至2.7 GHz,带宽高达20MHz, 并具有的较低底噪 (-110dBm)。



SNT2000在指标测量方面具有很多优势:

 采用业内*精准的超谱技术,可以使得旁瓣抑制达到-80dB

 使用实时频谱显微镜,捕获频谱瞬时变化

 能够提供23种脉冲测量参数

 将可进行全自动2D辐射场型的测试

 可以模拟高斯噪声与白噪声两类噪声环境,在进行标签测试时,测试者可以人为的加入噪声来测试标签的抗干扰能力

 对RFID工作频率范围进行扫描,可以得知再次频段内所有辐射频率的相关信息

 可以给出了不同频段下,不同发射功率,不同发射角度下的*大通讯距离的理论值。


DQSNT2000支持多种RFID协议制式,具体包括:

 ISO 14443

 ISO 15693

 ISO18092 NFC

 I Code 1

 ISO 18000-4

 ISO-18000-6

 ISO 18000-7

DQSNT2000 配套有70dB隔离度的微波暗箱, 360度平面转动的待测物转台系统,13.56MHz,860-960MHz的RFID测量天线


 小型化标签测试实验室

无需专门建造昂贵的微波暗室,SNT2000标签综测仪为您提供一个低成本小型化标签测试标准解决方案,处处皆是您的实验室。


 认证级的射频指标

认证级性能的PXIe模块化仪器构成,为您提供高性能、可扩展、低成本的RFID测试解决方案。


 丰富的协议支持

支持协议覆盖13.56MHz、433MHz、860-960MHz、2.45GHz、5.8GHz等多个频段上的主流协议。


 **分析脉冲波形性能指标

23种脉冲测量指标供您充分选择。


 超谱技术提供真实的谱线分析

可以使得旁瓣抑制达到-80dB


 实时频谱显微镜,捕获频谱瞬时变化

20M实时分析带宽,真实反映信号的频谱特性。


 **实现射频标签的信令测试

仿真***与标签测试仪功能合二为一,**实现了射频标签的信令测试。


 完善的性能一致性测试

7大测试方案,综和评价标签性能。

射频指标

 频率范围:250 kHz至2.7 GHz

 频率分析带宽:20MHz

 *大输入功率:+30dBm

 输出功率范围:-145dBm至10dBm

 输出电平精度:±1 dB

 底噪:-110dBm


支持测试协议

 ISO 14443

 ISO 15693

 ISO18092 NFC

 I Code 1

 ISO 18000-4

 ISO-18000-6

 ISO 18000-7


微波暗箱

 暗箱尺寸:1.2m(L)×0.8m(W)×0.8m(H)

 屏蔽门大小:800m m×1000mm

 材质:不锈钢

 吸波材料:300mm 高度的 BPUFA 型角锥材料( BPUFA300)满铺。主反射面使用BPUFA300,其他五面BPUFA100

 屏蔽效果:70dB

 连接天线:波导孔


13.56MHz RFID测量天线

 工作频率: 13.56M

 满足ISO IEC 10373-62011 协议标准

 支持协议:ISO 14443;ISO 15693;ISO18092 NFC等

 直径: 150mm

 RF连接:SMA


860-960MHz RFID测量天线

 工作频率: 860-960MHz

 支持协议:ISO 1800-6

 增益:8.5dBic

 *大输入功率:3 W

 VSWR:1.4:1


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