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供应AT513方阻测试仪
详情介绍:

供应AT513方阻测试仪

AT513 四探针方阻测试仪器,采用高性能 ARM 微处理器控制的全自动实时检测的微型台式仪器。仪器采用全彩的 LCD 显示屏,全数字键盘,搭配安柏仪器操作系统,使显示更清晰,操作更方便。

AT513可根据长度(0~10000mm),宽度(0~10000mm),间距(0~10000mm)算出F值功能。

AT513可在内部存储 10 组设置,外部 USB 磁盘也可存储 10 组设置,方便不同规格调用。

AT513四探针方阻测试仪标配 LAN接口、RS-232接口和RS-485 接口,使用 SCPI(Standard Command for Programmable Instrument 可程控仪器标准命令集)和 Modbus RTU 协议与计算机、PLC 或 WINCE 设备进行通讯,高效完成远程控制和数据采集功能。

供应AT513方阻测试仪特征

AT513四探针法通过将电流和电压测量分开,消除了接触电阻的影响,从而提高了测量的精度。还能减少背景信号的干扰,特别是测量低电阻率材料时,背景信号的影响会被显著降低。
四探针法仅需在样品表面轻轻接触,不会对样品造成物理损伤,适用于各种敏感材料的测量。
四探针法适用于各种材料,包括金属,半导体,绝缘体和复合材料。特别是对于薄膜材料,四探针法能准确的测量其电阻率,不受样品厚度影响。
仪器具有 2%的电阻率准确度,测量范围可到 200kΩ。


供应AT513方阻测试仪规格

测量参数 方阻测试
通道数 /
基本准确度 2%
测量范围 200mΩ~200kΩ
量程 7量程 手动
测量速度 /
*大读数 900kΩm
触发方式 内部、外部触发
接口 Handler 接口 RS232接口 LAN接口 RS485接口 Type-C 接口
其他 真彩5寸 TFT-LCD显示 带电容触摸屏,键盘锁
附件 四线制探针
可选附件 /
尺寸与重量 264mm (宽)x105mm(高)x350mm (深)
重量:3.5kg
电源要求 电压:100VAC~240VAC 频率:50Hz/60Hz
应用
测量‌薄层(或薄膜)材料的方块电阻‌
表征薄膜材料导电性能的方块电阻(Sheet Resistance, Rs)
适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、
太阳能等材料的测试
测量柔性材料导电薄膜、
金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层材料的电阻率/方阻


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