影响涂层测厚仪测量精度的人为可控因素
人为可控因素：
1.曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。因此我们在测量涂层厚度时尽量选择平整的表面来作为测量点。
2.试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出的数据不可靠。所以对于不同类型的覆层可以制作合适的探头夹具辅助测量。
3.边缘效应
仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
5.附着物质
仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须**附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
6.测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
7.测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。