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- 产品名称：3504日本日置HIOKI3504C测试仪
- 产品型号：3504日本日置HIOKI3504C
- 产品展商：日本日置
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简单介绍
3504日本日置HIOKI3504C测试仪3504日本日置HIOKI3504C测试仪
3504 C测试仪高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms
产品描述
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3504日本日置HIOKI3504C测试仪
3504日本日置HIOKI3504C测试仪
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
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- *多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (**于3504)
- 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
- 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。
- 可选定测量电压
- 触发同步测量
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输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
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测量参数
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Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan）
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测量范围
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C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
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基本确度
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（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
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测量频率
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120Hz, 1kHz
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测量信号电平
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恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz）
CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz）
CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz）
CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz）
信号电平精度 ±10% ± 5 mV
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输出电阻
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5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外）
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显示
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发光二级管
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测量时间
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典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
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机能
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BIN 分选测量功能（**于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口（标准）, GP-IBイ接口（**于3504）
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电源
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AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
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体积及重量
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260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
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附件
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电源线× 1, 电源备用保险丝× 1
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(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)
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相位同期功能(特殊式样)
同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。
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