温度冲击试验标准的

温度冲击试验标准的

温度冲击试验可用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批生产阶段的例行试验中不可缺少的试验项目，在有些情况下也可以用于环境应力筛选。可以说，其在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。该试验项目在我国装备常用的环境试验标准GJB150-86《**设备环境试验方法》（以下简称GJB150），以及GB2423《电工电子产品基本环境试验规程》（以下简称GB2423）和美军标MIL-STD-810F《环境工程考虑和实验室试验》（以下简称810F）中均是一项独立的试验项目。三个标准中这一试验项目在某些内容甚至在概念上存在较大差异。
本文对这三个标准中的这一试验项目进行对比分析：

1、GJB150.5（1986）**设备环境试验方法温温度冲击试验　　
目的：确定**设备对周围大气温度急剧变化时的适应性
应用产品层次：设备
2、MIL-STD-810F第II部分方法503.4（2001）　环境工程考虑和实验室试验　
第II部分实验室试验方法温度冲击程序
１、恒定极值温度冲击　　程序２、基于高温循环的冲击
目的：确定装备能否经受其周围大气温度的急剧变化，而不产生物理损坏或性能下降。“急剧变化”定为“大于１０度／分钟
标准中温度冲击试验的应用产品层次略有不同。GJB150规定只适用于设备，而810F和GB2423中规定可适用于元器件、部件、设备等各个组装等级。GJB150是以美军标810C/D两个版本为基础制定的，美军标体系中元器件温度冲击试验另有单独的试验标准MIL
-STD-202F《电工电子元器件环境试验方法》。我国也以202F标准为基础制定了我国的电工电子元器件的环境试验方法标准GJB　360《电工电子元器件环境试验方法》，这两个标准中均有温度冲击试验分标准。因此，GJB150和810C/D中温度冲击试验应用产品**于设备。GB2423系列标准属于欧洲电工委员会（IEC）标准的体系，尚未发现该标准体系中单独给出元器件的环境试验方法标准，所以GB2423适用于各个组装等级产品的规定有一定的合理性。然而810F中规定也适用于元部件规定，是与202F标准相矛盾的，不够合理，目前没有见到如此规定的说明。