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苏州天仪科创机电科技有限公司
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直流电源 | 源测量单元 | 数字万用表 | 半导体测试系统 | 电池测试与模拟

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	SMU 源表 2601B	2600B 系列 SMU 源表2601B Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接*多 64 条通道，适用于大容量并行测试。
	THD 和音频分析万用表 2015-P	Keithley 2015-P THD 和音频分析万用表我们的音频分析万用表将音频带质量测量和分析与多用途 6½ 位 DMM 集于一体，一切尽在一台半机架仪器中。它们可以测量 20 Hz 至 20 kHz 音频带范围内的总谐波失真 (THD)，还可以计算总谐波失真+噪声和信纳比 (SINAD)。 2015-PP 和 2016-P 设备可直接识别频谱峰值。
	THD 和音频分析万用表 2015	Keithley 2015 THD 和音频分析万用表我们的音频分析万用表将音频带质量测量和分析与多用途 6½ 位 DMM 集于一体，一切尽在一台半机架仪器中。它们可以测量 20 Hz 至 20 kHz 音频带范围内的总谐波失真 (THD)，还可以计算总谐波失真+噪声和信纳比 (SINAD)。 2015P 和 2016-P 设备可直接识别频谱峰值。
	扫描功能数字万用表 2002MEM2	Keithley 2002MEM2 系列：配有扫描功能的 8½ 位万用表这款 8½ 位 2002MEM2 型高性能数字万用表不仅提供通常只有花费数千元购买的仪器才有的性能技术指标，而且具有通常 DMM 都没有的众多功能。这款 DMM 具有 1nV DCV 灵敏度和 0.0006% 基本精度，还具备 18 种测量功能。为实现更大灵活性，在后面板上的内置卡槽上还可以再插入一个多路器卡用于多点测量。当生产测试、设计
	扫描功能数字万用表 2002	Keithley 2002 系列：配有扫描功能的 8½ 位万用表这款 8½ 位 2002 型高性能数字万用表不仅提供通常只有花费数千元购买的仪器才有的性能技术指标，而且具有通常 DMM 都没有的众多功能。这款 DMM 具有 1nV DCV 灵敏度和 0.0006% 基本精度，还具备 18 种测量功能。为实现更大灵活性，在后面板上的内置卡槽上还可以再插入一个多路器卡用于多点测量。当生产测试、设计验证和测量应用特别需要高精度时，这款 DMM 就是优良的选择。
	扫描数字万用表 2001	Keithley 2001 系列：配有扫描功能的 7½ 位万用表 2001 系列具有 7 ½ 位分辨率和 0.0018% 的基本 DCV 精度，提供**的分辨率、精度和灵敏度。这款高性能数字万用表不仅提供通常只有花费数千元购买的仪器才有的性能技术指标，而且具有通常 DMM 都没有的众多功能。为实现更大灵活性，在后面板上的内置卡槽上还可以再插入一个多路器卡用于多点测量。
	高精度、高采样速度数字万用表 DMM7510	DMM7512 双通道 7½ 位采样万用表 DMM7512 将两个全功能、高精度、高采样速度的数字万用表组合到一个 1U 高的全机架宽机箱中。该紧凑型机箱可在高密度仪器测试系统中节省机架空间，而不会影响测量性能。每个 DMM 具有相同的功能，并且完全相互独立。
	高精度、高分辨率数字万用表 DMM DMM7510-RACK	DMM7510-RACK DMM7510-RACK 集高精度、高分辨率数字万用表 (DMM)、图形触摸屏显示器和高速、高分辨率数字化器于一身，是一款图形采样万用表。其具有 pA 灵敏度和 1M 个样点/秒的采样率，能准确测量超低睡眠模式电流和传输无线设备的漏电流。
	高精度、高分辨率数字万用表 DMM DMM7510	DMM7510 DMM7510 集高精度、高分辨率数字万用表 (DMM)、图形触摸屏显示器和高速、高分辨率数字化器于一身，是一款图形采样万用表。其具有 pA 灵敏度和 1M 个样点/秒的采样率，能准确测量超低睡眠模式电流和传输无线设备的漏电流。
	数字万用表 DMM DMM6500	Keithley DMM6500 6.5 位数字万用表，带图形触摸屏无需巨额投资即可获得高性能仪器。这款台式触摸屏 6.5 位数字万用表，提供了包括瞬态捕获、数据可视化和分析在内的多种测量功能，超越了许多同价位的工业 6.5 位数字万用表。此外，它享有标准的 3 年保修服务。查看更多型号的数字万用表。
	Keithley 自动化检定软件 ACS	吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境，可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试，甚至简单的功能测试。ACS 支持各种吉时利仪器和系统、硬件配置和测试设置，从用于 QA 实验室的一些台式仪器到完全集成且基于机架的自动化测试系统。利用 ACS，用户可使用自动硬件管理工具配置仪器，并快速执行测试，无需具备编程知识。
	半导体开关系统 707B	707B半导体开关系统，半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主机可以支持多达 2,880 个通道以及专为半导体应用而设计的一系列矩阵卡。
	半导体开关系统 708B	708B半导体开关系统，半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主机可以支持多达 2,880 个通道以及专为半导体应用而设计的一系列矩阵卡。
	氮化镓、碳化硅参数测试仪系统 S500	当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）氮化镓、碳化硅要求进行参数测试，以便大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。
	氮化镓、碳化硅参数测试仪系统 S540	当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）氮化镓、碳化硅要求进行参数测试，以便大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。
	氮化镓、碳化硅参数测试仪系统 S530	当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）氮化镓、碳化硅要求进行参数测试，以便大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-4B	2600-PCT-4BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-3B	2600-PCT-3BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-2B	2600-PCT-2BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-1B	2600-PCT-1BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

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